MSZ EN 60749-24:2004
Herramientas de introducción. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Ensayo de resistencia a la humedad acelerada. Ensayo de estrés acelerado extremadamente rápido (HAST), sin estrés eléctrico (IEC 60749-24:2004)

Estándar No.
MSZ EN 60749-24:2004
Fecha de publicación
2004
Organización
Magyar Szabványügyi Testület
Ultima versión
MSZ EN 60749-24:2004
 
Alcance
La prueba de estrés altamente acelerada sin polarización (HAST) se realiza para evaluar la fiabilidad de dispositivos de estado sólido no herméticos en ambientes húmedos. Es una prueba altamente acelerada que utiliza temperatura y humedad...

MSZ EN 60749-24:2004 Historia

  • 2004 MSZ EN 60749-24:2004 Herramientas de introducción. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Ensayo de resistencia a la humedad acelerada. Ensayo de estrés acelerado extremadamente rápido (HAST), sin estrés eléctrico (IEC 60749-24:2004)

estándares y especificaciones

DIN EN 60749-4 E:2016-06 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Prueba de calor húmedo, constante y altamente acelerada (HAST LST EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 4: Calor húmedo constante, prueba con efecto muy acelerado (HAST) (IEC 60749-4 DIN EN 60749-5 E:2016-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DIN EN IEC 60749-37:2023-02 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 47 VDE 0468-2-38 E*DIN IEC 60068-2-38:2007-11 Pruebas ambientales - Parte 2-38: Pruebas - Prueba Z/AD: Prueba cíclica compuesta de temperatura/humedad DIN EN IEC 60749-15 E:2019-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados GSO IEC 60807-3:2014 Conectores rectangulares para frecuencias inferiores a 3 MHz. Parte 3: Especificaciones detalladas para una gama de conectores con carcasas metálicas de forma GSO IEC 60807-7:2014 Conectores rectangulares para frecuencias inferiores a 3 MHz. Parte 7: Especificaciones detalladas para una gama de conectores con guías polarizadas o tornillos BS EN 61076-4-001:1997 Conectores con calidad evaluada, para uso en aplicaciones de datos CC, analógicas de baja frecuencia y digitales de alta velocidad - Conectores de placa impresa


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