NF EN 60749-40:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica.

Estándar No.
NF EN 60749-40:2012
Fecha de publicación
2012
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF EN 60749-40:2012
 
Introducción
Esta norma establece métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores. En particular, aborda la evaluación mediante caídas a nivel de placa utilizando extensometros, proporcionando directrices detalladas para llevar a cabo estas pruebas.

NF EN 60749-40:2012 Historia

  • 2012 NF EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica.

estándares y especificaciones

GSO IEC 60749-40:2015 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. IEC 60749-40:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. EN 60749-40:2011 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. DS/EN 60749-40:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. DANSK DS/EN 60749-40:2011 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. CEI EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica. LST EN 60749-40-2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC DIN IEC 60749-40 E:2009 Borrador de documento - Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando


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