ISO 3497:2000
Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Métodos espectrométricos de rayos X
- Estándar No.
- ISO 3497:2000
- Fecha de publicación
- 2000
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO 3497:2000
- Alcance
- ADVERTENCIA Los problemas relacionados con la protección del personal contra los rayos X no están cubiertos por esta norma internacional. Para obtener información sobre este importante aspecto, se debe hacer referencia a las normas internacionales y nacionales vigentes, y a las regulaciones locales, cuando existan. 1 Esta norma internacional especifica métodos para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante el uso de métodos espectrométricos de rayos X. 2 Los métodos de medición a los que se aplica esta Norma Internacional son fundamentalmente aquellos que determinan la masa por unidad de área. Conociendo la densidad del material de recubrimiento, los resultados de las mediciones también se pueden expresar como espesor lineal del recubrimiento. 3 Los métodos de medición permiten medir simultáneamente sistemas de recubrimiento con hasta tres capas o medir simultáneamente el espesor y la composición de capas con hasta tres componentes. 4 Los rangos de medición prácticos de determinados materiales de recubrimiento están determinados en gran medida por la energía de la fluorescencia de rayos X característica que se va a analizar y por la incertidumbre de medición aceptable y pueden diferir según el sistema de instrumentos y el procedimiento operativo utilizado.
ISO 3497:2000 Historia
- 2000 ISO 3497:2000 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Métodos espectrométricos de rayos X
- 1990 ISO 3497:1990 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; Métodos espectrométricos de rayos X.
- 1976 ISO 3497:1976 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Métodos espectrométricos de rayos X.
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
ISO 4524-1:1985 Recubrimientos metálicos; Métodos de prueba para recubrimientos de oro y aleaciones de oro electrodepositados; Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento.
DS/ISO 2093:1986 Recubrimientos metálicos. Recubrimientos galvanizados de estaño.
GB/T 16525-1996 Especificación de marcos conductores para paquetes portadores de chips con terminales de plástico
GB/T 16921-1997 Medición del espesor de revestimiento metálico mediante métodos espectrométricos de rayos X.
DIN EN ISO 3497:2001 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Métodos espectrométricos de rayos X (ISO 3497:2000); Versión alemana EN ISO 3497:2000
QJ 479-1990 Método de prueba para determinar la fuerza de unión de revestimientos metálicos.
QJ 480-1990 Método de prueba para la porosidad de recubrimientos metálicos.
SJ/T 11112-1996 Recubrimientos metálicos: métodos de prueba para recubrimientos de plata electrodepositada y aleaciones de plata. Parte 2 Ensayos de resistencia a la adhesión
SJ 20129-1992 Métodos para medir el espesor del revestimiento metálico.
SJ 20130-1992 Métodos de prueba para la adhesión de recubrimientos metálicos.
GJB 33/22-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GO103.
GJB 33/23-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GH3201Z-4
SJ/T 2215-2015 Métodos de medición para fotoacopladores de semiconductores.
GB/T 16525-2015 Circuitos integrados semiconductores. Especificación de marcos conductores para paquetes portadores de chips con terminales de plástico.
GB/T 15651.5-2024 Dispositivos semiconductores Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos Optoacopladores
IPC TM-650 2.4.1C-1988 Adhesión @ Revestimiento