Toggle navigation
Normas y Especificaciones
JIS C 7022:1979
Métodos de pruebas ambientales y métodos de pruebas de resistencia para circuitos integrados de semiconductores.
Inicio
JIS C 7022:1979
Estándar No.
JIS C 7022:1979
Fecha de publicación
1979
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Estado
Retirar
Ultima versión
JIS C 7022:1979
JIS C 7022:1979 Historia
1979
JIS C 7022:1979
Métodos de pruebas ambientales y métodos de pruebas de resistencia para circuitos integrados de semiconductores.
estándares y especificaciones
KS C 6049-1980(2020
ambiental
y
métodos
de
prueba
de
resistencia
para
circuitos
integrados
de
semiconductores
KS C 6049-2020
Métodos
de
prueba
ambiental
y
métodos
de
prueba
de
resistencia
para
circuitos
integrados
de
semiconductores
KS C 6049-1980
Métodos
de
prueba
ambiental
y
métodos
de
prueba
de
resistencia
para
circuitos
integrados
de
semiconductores
IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos
IS 12641-1989 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBAS AMBIENTALES PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES Y CIRCUITOS INTEGRADOS
BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos
GB 14028-2018 Principios básicos de los métodos de prueba de interruptores analógicos de circuitos integrados de semiconductores
DIN EN 60749-8:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); Versión alemana
KS C IEC 60749-8:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 8: Sellado
© 2025 Reservados todos los derechos.