NF C96-022-26:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Estándar No.
NF C96-022-26:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Association Francaise de Normalisation
Estado
 2018-03
Remplazado por
NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018
Ultima versión
NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018
 

Introducción
Este documento describe métodos mecánicos y climáticos para la evaluación de dispositivos semiconductores, enfocándose en la prueba de sensibilidad a la descarga electrostática (ESD) utilizando el modelo corporal humano (HBM). El texto establece procedimientos detallados para la realización de ensayos, incluyendo condiciones específicas de ambiente, equipos necesarios y parámetros de medición. La norma proporciona información sobre la preparación de los dispositivos bajo prueba, la aplicación de descargas electrostáticas y la evaluación de los efectos resultantes. Además, se mencionan las características de los equipos utilizados en los ensayos, así como las condiciones de operación y los criterios de aceptación. Este documento está diseñado para garantizar la consistencia y la repetibilidad de los resultados obtenidos durante las pruebas de sensibilidad a la ESD, facilitando la comparación entre diferentes dispositivos y la toma de decisiones en el desarrollo y la fabricación de componentes electrónicos.

NF C96-022-26:2006 Historia

  • 2018 NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
  • 2006 NF C96-022-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

estándares y especificaciones

IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DS/EN 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). GSO IEC 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). CEI EN 60749-26:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). CEI EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DANSK DS/EN 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DANSK DS/EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).



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