NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
Este documento describe métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores. En particular, se enfoca en la evaluación de la sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) utilizando el modelo corporal humano (HBM). El objetivo es establecer procedimientos estandarizados para determinar el nivel de vulnerabilidad de los componentes electrónicos ante este tipo de fenómeno. El alcance incluye la descripción detallada de los equipos necesarios, las condiciones de prueba, los pasos a seguir durante el ensayo y la forma de interpretar los resultados obtenidos. Este estándar proporciona una referencia común para la industria, permitiendo comparar los resultados entre diferentes laboratorios y asegurando la repetibilidad y la precisión de las mediciones. La norma se aplica a una amplia gama de dispositivos semiconductores utilizados en diversos entornos industriales y tecnológicos.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 Historia
2018NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
2006NF C96-022-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).