EN IEC 60749-26:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Estándar No.
EN IEC 60749-26:2018
Fecha de publicación
2018
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN IEC 60749-26:2018
 
Introducción
Este estándar establece métodos para evaluar la sensibilidad de los dispositivos semiconductores a descargas electrostáticas utilizando el modelo humano. Se describe el procedimiento para realizar pruebas de resistencia ante descargas electrostáticas, siguiendo un enfoque basado en la simulación de la descarga generada por un modelo humano. El estándar proporciona instrucciones detalladas sobre la configuración del equipo, los parámetros de prueba y los criterios de aceptación. Se incluyen normas para la preparación de los muestras y la realización de las mediciones. El documento también aborda aspectos relacionados con la calibración de los dispositivos utilizados en el proceso de prueba. La norma se enfoca en garantizar la consistencia y la reproducibilidad de los resultados obtenidos durante las pruebas.

EN IEC 60749-26:2018 Historia

  • 2018 EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de calibración del descargador electrostático del cuerpo humano.

estándares y especificaciones

IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DS/EN 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). GSO IEC 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). NF C96-022-26*NF EN IEC 60749-26:2018 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). CEI EN 60749-26:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). CEI EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). NF C96-022-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).


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