IEC 62374:2007
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta
- Estándar No.
- IEC 62374:2007
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62374:2007
- Reemplazar
- IEC 47/1894/FDIS:2006
- Alcance
- Esta norma internacional proporciona un método de prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de compuerta en dispositivos semiconductores y un método de estimación de la vida útil del producto para la falla TDDB.
IEC 62374:2007 Historia
- 2007 IEC 62374:2007 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta
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