IEC 62374:2007
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Estándar No.

IEC 62374:2007

Fecha de publicación

2007

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62374:2007

Reemplazar

IEC 47/1894/FDIS:2006

Alcance

Esta norma internacional proporciona un método de prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de compuerta en dispositivos semiconductores y un método de estimación de la vida útil del producto para la falla TDDB.

IEC 62374:2007 Historia

• 2007 IEC 62374:2007 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta