The Directorate General of Specifications and Metrology (DGSM)
Ultima versión
OS GSO IEC 62374:2014
Introducción
Esta norma proporciona directrices para la prueba del tiempo relacionado de la ruptura dieléctrica (TDDB) en películas de dieléctrico de puerta de dispositivos semiconductores. La guía incluye detalles sobre los métodos y procedimientos utilizados para evaluar la resistencia a la fatiga eléctrica del material dieléctrico utilizado en dichos dispositivos, permitiendo una mejor comprensión de su rendimiento y fiabilidad a lo largo del tiempo.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
OS GSO IEC 62374:2014 Historia
2014OS GSO IEC 62374:2014 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta