BH GSO IEC 62374:2016
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Estándar No.
BH GSO IEC 62374:2016
Fecha de publicación
2016
Organización
Kingdom of Bahrain Testing and Metrology Directorate
Ultima versión
BH GSO IEC 62374:2016
 
Introducción
Este documento proporciona directrices para la evaluación de la resistencia a la rotura dieléctrica en el tiempo (TDDB) en películas delgadas de dieléctrico utilizado en dispositivos semiconductores con un elemento de control por medio de una capa de dieléctrico. Se enfoca en los métodos de prueba para evaluar la confiabilidad de dichas películas mediante pruebas TDDB, proporcionando detalles sobre las condiciones ambientales y eléctricas necesarias, así como el análisis y reporte de datos.

BH GSO IEC 62374:2016 Historia

  • 2016 BH GSO IEC 62374:2016 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Temas especiales sobre estándares y normas

Tiempo de respuesta del dispositivo semiconductor Prueba de tensión de ruptura de dispositivo semiconductor

estándares y especificaciones

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