NF C96-022-12:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: vibración, frecuencia variable.

Estándar No.

NF C96-022-12:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Association Francaise de Normalisation

Estado

ser reemplazado 2018-03

Remplazado por

NF C96-022-12:2018

NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018

Ultima versión

NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018

Reemplazar

NF C96-022:1999 NF C96-022/A1:2002 NF C96-022/A2:2002

Introducción

Este estándar establece métodos de prueba para evaluar la resistencia de dispositivos semiconductores a condiciones mecánicas y climáticas. Específicamente, aborda la realización de pruebas de vibración a frecuencias variables, lo cual simula las condiciones de operación en entornos dinámicos. El documento proporciona instrucciones detalladas sobre los equipos necesarios, los parámetros de prueba y los criterios para interpretar los resultados. Además, incluye requisitos para la preparación de los muestras y los procedimientos de medición. El estándar busca garantizar que los dispositivos semiconductores cumplan con ciertos niveles de calidad y fiabilidad bajo condiciones adversas. La aplicación de este estándar permite una evaluación uniforme y reproducible de la capacidad de los dispositivos frente a vibraciones variables.

*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.

NF C96-022-12:2002 Historia

• 2018 NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: vibración, frecuencia variable.
• 0000 NF C96-022/A2:2002
• 2002 NF C96-022-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: vibración, frecuencia variable.
• 0000 NF C96-022:1999

estándares y especificaciones