CSN 35 8757 Cast.1-1985
Transistores. Método de medición de la tensión de ruptura colector-base y emisor-base

Estándar No.
CSN 35 8757 Cast.1-1985
Fecha de publicación
1985
Organización
CZ-CSN
Estado
Ultima versión
CSN 35 8757 Cast.1-1985
 
Alcance
Aprobación de ST SEV 3994-83 recomendada por el Ministerio Federal de Industria Eléctrica. Procesador: TESLA Ro?nov, kp, Ro?nov pod Radho?těm, H. Kristková Centro de estandarización sucursal: TESLA Ro?nov, kp, Ing. D. Balá?ová Trabajador del equipo de normalización y medición: Ing. J. Pibek

CSN 35 8757 Cast.1-1985 Historia

  • 1985 CSN 35 8757 Cast.1-1985 Transistores. Método de medición de la tensión de ruptura colector-base y emisor-base

Temas especiales sobre estándares y normas

Sistemas de dos y tres electrodos. electrodo de ruptura de voltaje Efecto resistivo del colector de transistores. Electrodo del sistema de electrodos.

estándares y especificaciones

ASTM F528-99 Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión ASTM F528-99(2005 Método de prueba estándar para medir la ganancia de corriente CC del emisor común de transistores de unión JEDEC JESD284A-1963 Métodos de prueba para la constante de tiempo de la base del colector y para la parte resistiva de la impedancia de entrada del emisor común Anteriormente EIA JEDEC JESD24-12-2004 Medición de impedancia térmica para transistores bipolares de puerta aislada (método Delta VCE(on)) (Este es un método alternativo al estándar JEDEC No. 24-6 CNS 8105-1981 Método de prueba para colector de transistores: voltaje de saturación del emisor BS 6493-1.4:1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos-Recomendaciones para diodos y transistores de microondas-Recomendaciones para dispositivos de microondas ASTM F632-90 Método de prueba para medir la ganancia de corriente de emisor común de señal pequeña de alta frecuencia de un transistor ASTM F448-11 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario ASTM F448-99(2005 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario

CSN 35 8757 Cast.1-1985 - todas las partes

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