ASTM E1249-00 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
1.1 Esta práctica cubre los procedimientos recomendados para el uso de dosímetros, como los dosímetros termoluminiscentes (TLD), para determinar la dosis absorbida en una región de interés dentro de un dispositivo electrónico irradiado con una fuente de Co-60. Las fuentes de Co-60 se utilizan comúnmente para las pruebas de dosis absorbidas de dispositivos electrónicos de silicio. Nota 1. Esta prueba de dosis absorbida a veces se denomina "prueba de dosis total" para distinguirla de la "prueba de tasa de dosis". Nota 2: Los efectos de las radiaciones ionizantes en algunos tipos de dispositivos electrónicos pueden depender tanto de la dosis absorbida como de la tasa de dosis absorbida; es decir, los efectos pueden ser diferentes si el dispositivo se irradia al mismo nivel de dosis absorbida a diferentes velocidades de dosis absorbida. Los efectos de la tasa de dosis absorbida no están cubiertos en esta práctica, pero deben considerarse en las pruebas de dureza de la radiación. 1.2 El principal error potencial para la medición de la dosis absorbida en dispositivos electrónicos surge de los efectos de la deposición de energía en desequilibrio en las proximidades de las interfaces de los materiales. 1.3 Se proporciona información sobre los efectos de mejora de la dosis absorbida en las proximidades de las interfaces de materiales. Se enfatiza la sensibilidad de tales efectos a componentes de baja energía en el espectro de energía del fotón Co-60. 1.4 Se ofrece una breve descripción de las fuentes típicas de Co-60, con especial énfasis en la presencia de componentes de baja energía en el espectro de energía de los fotones emitidos por dichas fuentes. 1.5 Se dan procedimientos para minimizar los componentes de baja energía del espectro de energía de los fotones de fuentes de Co-60, mediante filtración. Se recomienda el uso de una caja de filtro para lograr dicha filtración. 1.6 Se brinda información sobre los efectos de mejora de la dosis absorbida que dependen de la orientación del dispositivo con respecto a la fuente de Co-60. 1.7 El uso de la filtración del espectro y la orientación adecuada del dispositivo proporciona un entorno de radiación mediante el cual la dosis absorbida en la región sensible de un dispositivo electrónico puede calcularse dentro de límites de error definidos sin un conocimiento detallado de la estructura del dispositivo o del espectro de energía fotónica de la fuente. y, por tanto, sin conocer los detalles de los efectos de mejora de la dosis absorbida. 1.8 Las recomendaciones de esta práctica se aplican principalmente a las pruebas pieza-parte de dispositivos electrónicos. Las pruebas de placas de circuitos electrónicos y sistemas electrónicos pueden presentar problemas que no se tratan adecuadamente con los métodos recomendados aquí. 1.9 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1249-00 Historia
2021ASTM E1249-15(2021) Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
2015ASTM E1249-15 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
2010ASTM E1249-10 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
2000ASTM E1249-00(2005) Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
2000ASTM E1249-00 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60