ASTM F1996-00
Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana

Estándar No.

ASTM F1996-00

Fecha de publicación

2000

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM F1996-01

Ultima versión

ASTM F1996-14

Alcance

1.1 Este método de prueba se utiliza para determinar la susceptibilidad de un interruptor de membrana a la migración de la plata entre las trazas del circuito bajo un potencial de voltaje de CC. 1.2 La migración de la plata ocurrirá cuando estén presentes condiciones especiales de humedad y energía eléctrica.

ASTM F1996-00 Historia

• 2014 ASTM F1996-14 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
• 2006 ASTM F1996-06 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
• 2001 ASTM F1996-01 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
• 2000 ASTM F1996-00 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana