Los efectos de la migración de plata son cortocircuitos o reducción de la resistencia del aislamiento. Se evidencia por tinción o decoloración entre las pistas conductoras del cátodo y del ánodo. Las pruebas aceleradas se pueden lograr aumentando el voltaje por encima de los voltajes especificados. (Un punto de partida típico sería 5 V CC 50 mA). 1.1 Este método de prueba se utiliza para determinar la susceptibilidad de un interruptor de membrana a la migración de la plata entre las trazas del circuito bajo potencial de voltaje CC. 1.2 La migración de la plata se producirá cuando existan condiciones especiales de humedad y La energía eléctrica está presente.
ASTM F1996-06 Historia
2014ASTM F1996-14 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2006ASTM F1996-06 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2001ASTM F1996-01 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2000ASTM F1996-00 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana