ASTM F1996-14 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana normas y especificaciones

Alcance: 4.1 Los efectos de la migración de plata son cortocircuitos o reducción de la resistencia del aislamiento. Se evidencia por tinción o decoloración entre las pistas conductoras del cátodo y del ánodo. 4.2 Las pruebas aceleradas se pueden lograr aumentando el voltaje por encima de los voltajes especificados. (Un punto de partida típico sería 5 V CC 50 mA). 1.1 Este método de prueba se utiliza para determinar la susceptibilidad de un interruptor de membrana a la migración de la plata entre las trazas del circuito bajo un potencial de voltaje de CC. 1.2 La migración de plata se producirá cuando se presenten condiciones especiales de humedad y energía eléctrica.

ASTM F1996-14 Documento de referencia

ASTM F1596 Método de prueba estándar para la exposición de un interruptor de membrana o un dispositivo electrónico impreso a la temperatura y la humedad relativa*， 2023-11-02 Actualizar
ASTM F1689 Método de prueba estándar para determinar la resistencia de aislamiento de un interruptor de membrana

2014 ASTM F1996-14 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2006 ASTM F1996-06 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2001 ASTM F1996-01 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana
2000 ASTM F1996-00 Método de prueba estándar para la migración de plata en circuitos de interruptores de membrana