ASTM E1994-98
Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos

Estándar No.

ASTM E1994-98

Fecha de publicación

1998

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1994-98(2003)

Ultima versión

ASTM E1994-09(2023)

Alcance

1.1 Esta práctica es principalmente una declaración de principios para guiar a los comités técnicos de ASTM y otros en el uso del límite de calidad promedio de salida, AOQL, y el porcentaje de tolerancia de lote defectuoso, LTPD, planes de muestreo para determinar la aceptación de lotes de producto.

ASTM E1994-98 Historia

• 2023 ASTM E1994-09(2023) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2018 ASTM E1994-09(2018) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2009 ASTM E1994-09(2013) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2009 ASTM E1994-09 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2008 ASTM E1994-08 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 1998 ASTM E1994-98(2003) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 1998 ASTM E1994-98 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos