Se dan dos tipos generales de tablas (Nota 1), una basada en el concepto de tolerancia de lote, LTPD, y la otra en AOQL. A continuación se indican las condiciones generales bajo las cuales se ha encontrado que los diferentes tipos se adaptan mejor. Para cada uno de los tipos se proporcionan tablas tanto para muestreo simple como para muestreo doble. Cada una de las tablas individuales constituye una colección de soluciones al problema de minimizar la cantidad total de inspección. Debido a que cada línea de las tablas cubre un rango de tamaños de lote, los valores de AOQL en las tablas LTPD y los valores de LTPD en las tablas AOQL suelen ser conservadores. Nota 18212; Las tablas del Anexo A1 al Anexo A4 y partes del texto se reproducen con autorización de John R. Wiley and Sons. En ese texto se encontrarán tablas más extensas y una discusión de los métodos. Las tablas de muestreo basadas en la protección de la calidad del lote (LTPD) (las tablas del Anexo A1 y el Anexo A2) quizás se adapten mejor a condiciones en las que el interés se centra en cada lote por separado, por ejemplo, cuando el lote individual tiende a conservar su identidad ya sea desde un envío o desde el punto de vista del servicio. Estas tablas han resultado particularmente útiles en las inspecciones realizadas por el consumidor final o un agente de compras para lotes o envíos adquiridos de forma más o menos intermitente. Las tablas de muestreo basadas en la protección de la calidad promedio (AOQL) (las tablas en el Anexo A3 y Anexo A4) están especialmente adaptadas para su uso cuando el interés se centra en la calidad promedio del producto después de la inspección en lugar de en la calidad de cada lote individual y donde la inspección es , por tanto, destinado a servir, en su caso, como pantalla parcial de piezas defectuosas. Este último punto de vista ha resultado especialmente útil, por ejemplo, en inspecciones de consumidores en compras continuadas de grandes cantidades de un producto y en inspecciones de procesos de fabricación de piezas en las que los lotes de inspección tienden a perder su identidad al fusionarse en un almacén común del que proceden. las cantidades se retiran bajo pedido según sea necesario. Los planes basados en la protección de la calidad media (AOQL) consideran el grado en que todo el procedimiento de inspección elimina defectos en el producto presentado al inspector. Los lotes aceptados por muestra se someten a un cribado parcial mediante la eliminación de defectos encontrados en las muestras. Los lotes que no sean aceptados por muestra quedan completamente libres de defectos. Obviamente, esto requiere una prueba no destructiva. El resultado general es un porcentaje promedio de defectos en el producto cuando sale del inspector, denominado calidad promedio de salida, que depende del nivel de porcentaje de defectos del producto entrante y de la proporción del total de defectos que se eliminan. Dado el problema específico de reemplazar una inspección de selección del 100 % por una inspección de muestreo, el primer paso es decidir el tipo de protección deseada, seleccionar el límite deseado de porcentaje de tolerancia de lote defectuoso (LTPD) o valor AOQL para ese tipo de protección. y elegir entre muestreo simple y doble. Esto da como resultado la selección de una de las tablas adjuntas. El segundo paso es determinar si la calidad del producto es lo suficientemente buena como para justificar la introducción del muestreo. Las economías de muestreo se realizarán, por supuesto, sólo en la medida en que el porcentaje de defectos en el producto presentado sea tal que se cumplan los criterios de aceptación del plan de muestreo seleccionado. Por lo tanto, primero se debe realizar un análisis estadístico de los resultados de inspecciones pasadas para determinar los niveles y fluctuaciones existentes en el porcentaje de defectos para la característica o el grupo de características bajo consideración. Esto proporciona información con respecto al grado de control, así como el nivel habitual de porcentaje de defectos que se espera en las condiciones existentes. Determinar un valor a partir de esta y otra información para el promedio del proceso.
ASTM E1994-09 Historia
2023ASTM E1994-09(2023) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
2018ASTM E1994-09(2018) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
2009ASTM E1994-09(2013) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
2009ASTM E1994-09 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
2008ASTM E1994-08 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
1998ASTM E1994-98(2003) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
1998ASTM E1994-98 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos