ASTM E1994-09(2013)
Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos

Estándar No.

ASTM E1994-09(2013)

Fecha de publicación

2009

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1994-09(2018)

Ultima versión

ASTM E1994-09(2023)

Alcance

4.1 Se proporcionan dos tipos generales de tablas (Nota 1), una basada en el concepto de tolerancia de lote, LTPD, y la otra en AOQL. A continuación se indican las condiciones generales bajo las cuales se ha encontrado que los diferentes tipos se adaptan mejor. 4.1.1 Para cada uno de los tipos se proporcionan tablas tanto para muestreo simple como para muestreo doble. Cada una de las tablas individuales constituye una colección de soluciones al problema de minimizar la cantidad total de inspección. Debido a que cada línea de las tablas cubre una variedad de tamaños de lote, los valores AOQL en las tablas LTPD y los valores LTPD en las tablas AOQL suelen ser conservadores. Nota 1—Tablas del Anexo A1-Anexo A4 y partes del Los textos se reproducen con autorización de John R. Wiley and Sons. En ese texto se encontrarán tablas más extensas y una discusión de los métodos. 4.2 Las tablas de muestreo basadas en la protección de la calidad del lote (LTPD) (las tablas del Anexo A1 y Anexo A2) quizás se adapten mejor a condiciones donde el interés se centra en cada lote por separado, por ejemplo, cuando el lote individual tiende a para conservar su identidad ya sea desde el punto de vista del envío o del servicio. Estas tablas han resultado particularmente útiles en las inspecciones realizadas por el consumidor final o un agente de compras para lotes o envíos adquiridos de forma más o menos intermitente. 4.3 Las tablas de muestreo basadas en la protección de la calidad promedio (AOQL) (las tablas en el Anexo A3 y Anexo A4) están especialmente adaptadas para su uso cuando el interés se centra en la calidad promedio del producto después de la inspección en lugar de en la calidad del producto. cada lote individual y donde, por lo tanto, la inspección está destinada a servir, si es necesario, como una pantalla parcial para detectar piezas defectuosas. Este último punto de vista ha resultado especialmente útil, por ejemplo, en inspecciones de consumidores en compras continuadas de grandes cantidades de un producto y en inspecciones de procesos de fabricación de piezas en las que los lotes de inspección tienden a perder su identidad al fusionarse en un almacén común del que proceden. las cantidades se retiran bajo pedido según sea necesario. 4.4 Los planes basados en la protección de la calidad promedio (AOQL) consideran el grado en que todo el procedimiento de inspección elimina defectos en el producto presentado al inspector. Los lotes aceptados por muestra se someten a un cribado parcial mediante la eliminación de defectos encontrados en las muestras. Los lotes que no sean aceptados por muestra quedan completamente libres de defectos. Obviamente, esto requiere una prueba no destructiva. El resultado general es un porcentaje promedio de defectos en el producto cuando sale del inspector, lo que se denomina calidad promedio de salida, que depende del nivel de porcentaje de defectos del producto entrante y de la proporción del total de defectos que se examinan.... ..

ASTM E1994-09(2013) Documento de referencia

• ASTM E178 Práctica estándar para abordar observaciones atípicas
• ASTM E456 Terminología estándar relacionada con la calidad y las estadísticas

ASTM E1994-09(2013) Historia

• 2023 ASTM E1994-09(2023) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2018 ASTM E1994-09(2018) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2009 ASTM E1994-09(2013) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2009 ASTM E1994-09 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 2008 ASTM E1994-08 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 1998 ASTM E1994-98(2003) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• 1998 ASTM E1994-98 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos