ASTM E1855-04e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
1.1 Este método de prueba cubre el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores dosimétricos en la determinación de espectros de energía de neutrones y como monitores de fluencia de daño por desplazamiento equivalente a 1 MeV de silicio. 1.2 El daño por desplazamiento de neutrones es especialmente valioso como sensor de espectro en el rango 0,1 a 2,0 MeV cuando no se dispone de láminas de fisión. Se ha aplicado en el rango de fluencia entre 2 215; 10 12 n/cm2 y 1 215; 1014 n/cm2 y debería ser útil hasta 1015 n/cm2. Este método de prueba detalla los pasos para la adquisición y uso de información de fluencia equivalente de 1 MeV de silicio (de manera similar al uso de datos de lámina de activación) para la determinación de espectros de neutrones.1.3 Además, este sensor puede proporcionar una confirmación importante de espectros de neutrones determinados con otros sensores y produce una medición directa de la fluencia de 1 MeV del silicio mediante la técnica de transferencia.1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de los requisitos reglamentarios antes de su uso.
ASTM E1855-04e1 Historia
2020ASTM E1855-20 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2015ASTM E1855-15 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2010ASTM E1855-10 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2005ASTM E1855-05e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2005ASTM E1855-05 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2004ASTM E1855-04e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2004ASTM E1855-04 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
1996ASTM E1855-96 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento