ASTM E1855-10 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
Se debe conocer el espectro de neutrones en un entorno de prueba (simulación) para poder utilizar la respuesta medida del dispositivo en el entorno de prueba para predecir el rendimiento del dispositivo en un entorno operativo (consulte la Práctica E1854). Normalmente, los espectros de neutrones se determinan mediante el uso de un conjunto de sensores que tienen funciones de respuesta que son sensibles a la región de energía de neutrones a la que responde el dispositivo bajo prueba (DUT) (consulte la Guía E721). En particular, para los dispositivos bipolares de silicio expuestos en los espectros de neutrones del reactor, este rango de energía efectiva está entre 0,01 y 10 MeV. Un conjunto típico de reacciones de activación que carecen de reacciones de fisión de nucleidos como 235U, 237Np o 239Pu tendrán muy poca sensibilidad al espectro entre 0,01 y 2 MeV. Para un espectro de reactor de tipo piscina, el 70 % de la respuesta al daño electrónico del DUT puede encontrarse en este rango. A menudo, las láminas de fisión no se incluyen en el conjunto de sensores para la determinación del espectro porque su uso requiere una licencia y requieren un manejo especial por consideraciones de física sanitaria. Los transistores de silicio proporcionan la respuesta necesaria para definir el espectro en este rango crítico. Si el conjunto de sensores incluye láminas de fisión, el sensor de silicio confirma la forma del espectro. Los transistores bipolares, como el tipo 2N2222A, son económicos, más pequeños que las láminas de fisión contenidas en una bola de boro y son sensibles a una parte del espectro de neutrones importante para dañar la electrónica moderna de silicio. También se pueden utilizar directamente en matrices para mapear la fluencia equivalente a 1 MeV(Si). El conjunto adecuado de pasos a seguir para leer la degradación de la ganancia del transistor es el tema principal de este método de prueba.1.1 Este método de prueba cubre el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores dosimétricos en la determinación de espectros de energía de neutrones y como sensores de silicio 1 -Monitores de fluencia de daño por desplazamiento equivalente a MeV(Si). 1.2 El daño por desplazamiento de neutrones es especialmente valioso como sensor de espectro de neutrones en el rango de 0,1 a 2,0 MeV cuando no se dispone de láminas de fisión. Se ha aplicado en el rango de fluencia entre 2 × 10 12 n/cm2 y 1 &#× 1014 n/cm2 y debería ser útil hasta 1015 n/cm2. Este método de prueba detalla los pasos para la adquisición y el uso de información de fluencia equivalente de 1 MeV de silicio (de manera similar al uso de datos de láminas de activación) para la determinación de espectros de neutrones. 1.3 Además, este sensor puede proporcionar una confirmación importante de los espectros de neutrones determinados con otros sensores y produce una medición directa de la fluencia de 1 MeV del silicio mediante la técnica de transferencia. 1.4 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de los requisitos reglamentarios antes de su uso.
ASTM E1855-10 Historia
2020ASTM E1855-20 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2015ASTM E1855-15 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2010ASTM E1855-10 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2005ASTM E1855-05e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2005ASTM E1855-05 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2004ASTM E1855-04e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
2004ASTM E1855-04 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
1996ASTM E1855-96 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento