DS/EN 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
Esta parte de 60444 explica el dispositivo de prueba que permite la medición precisa de la frecuencia de resonancia, la resistencia de resonancia y los parámetros del circuito eléctrico equivalente de unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie sin plomo utilizando la técnica de fase cero como se especifica en IEC 60444-4 e IEC 60444-5. Luego se muestran una constante de circuito equivalente y el rango de frecuencia de aplicación obtenido utilizando el dispositivo de prueba. Además, esto se aplica al gabinete que se muestra en IEC 61240 como una unidad de cristal sin cables. El circuito equivalente del dispositivo de prueba y los valores eléctricos se basan en IEC 60444-1 e IEC 60444-4. El rango de capacitancia de carga es 10 pF o
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