BS ISO 19830:2015
Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- Estándar No.
- BS ISO 19830:2015
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS ISO 19830:2015
- Alcance
- El propósito de esta Norma Internacional es definir el ajuste de picos en la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X y cómo deben reportarse sus resultados. Se aplica al ajuste de un solo espectro o al ajuste de un grupo de espectros relacionados, como el que podría obtenerse en una medición de perfil de profundidad. Esta Norma Internacional proporciona una lista de parámetros que deben reportarse para lograr un ajuste de picos reproducible o para ajustar múltiples espectros y compararlos. Esta Norma Internacional no proporciona instrucciones para el ajuste de picos ni el procedimiento a seguir.
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