BS IEC 62830-3:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para captación y generación de energía. - Parte 3: Recolección de energía electromagnética basada en vibraciones. normas y especificaciones

BS IEC 62830-3:2017 Documento de referencia

IEC 60749-10:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.
IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
IEC 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
IEC 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
IEC 62830-1:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para la recolección y generación de energía - Parte 1: Recolección de energía piezoeléctrica basada en vibraciones

2017 BS IEC 62830-3:2017 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para captación y generación de energía. - Parte 3: Recolección de energía electromagnética basada en vibraciones.