IEEE Std C37.26-2014
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)

Estándar No.

IEEE Std C37.26-2014

Fecha de publicación

2014

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE Std C37.26-2014

Alcance

Esta guía describe tres métodos para medir el factor de potencia en circuitos de prueba inductivos de baja tensión (1000 V o inferior). Estos métodos pueden utilizarse a cualquier frecuencia, pero los valores de la tabla corresponden específicamente a circuitos de prueba de 60 Hz. Estos métodos incluyen: a) Método de relación, b) Método de decaimiento de CC, c) Método de relación de fase. La Tabla 1 enumera los métodos recomendados para diferentes niveles de corriente de prueba y de factor de potencia. Si bien esta guía se aplica principalmente a circuitos de prueba de baja tensión, los métodos descritos también pueden utilizarse para tensiones más altas.

IEEE Std C37.26-2014 Documento de referencia

• IEEE Std C37.20.1 Dispositivo de distribución blindado de disyuntor de potencia de bajo voltaje (1000 voltios y menos, 3200 voltios y menos)*， 2015-01-01 Actualizar

IEEE Std C37.26-2014 Historia

• 2014 IEEE Std C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
• 2003 IEEE Std C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje.
• 1972 IEEE Std C37.26-1972 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de baja tensión.

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