IEEE Std C37.26-2014
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
- Estándar No.
- IEEE Std C37.26-2014
- Fecha de publicación
- 2014
- Organización
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Ultima versión
- IEEE Std C37.26-2014
IEEE Std C37.26-2014 Historia
- 2014 IEEE Std C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
- 2003 IEEE Std C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje.
- 1972 IEEE Std C37.26-1972 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de baja tensión.
- 1971 IEEE C37.26-1971 Guía estándar para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje
