Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger. son: Química analítica, Componentes electrónicos en general., Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., pruebas de metales, Medidas lineales y angulares., Pruebas no destructivas, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., ingeniería de energía solar.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

ASTM E1127-24 Guía estándar para la elaboración de perfiles de profundidad en espectroscopia electrónica Auger
ASTM E1127-08(2015) Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
ASTM E1127-08 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
ASTM E1127-91(1997) Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E984-12(2020) Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E984-95 Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E984-95(2001) Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E984-12 Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger

International Organization for Standardization (ISO), Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
ISO 17973:2024 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

KS D ISO 18118-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
KS D ISO 21270-2020 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15471-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17973-2021 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental

Professional Standard - Electron, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

SJ/T 10457-1993 Guía estándar para espectroscopia electrónica de barrena de perfilado de profundidad
SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

GB/T 35158-2017 Método de verificación para espectrómetros de electrones Auger (AES)

GSO, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

OS GSO ISO 18118:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
GSO ISO 18118:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
BH GSO ISO 18118:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
BH GSO ISO 21270:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
OS GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
GSO ISO/TR 18394:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BH GSO ISO 18516:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
OS GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
GSO ISO 16242:2015 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
BH GSO ISO 16242:2017 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
OS GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BH GSO ISO 29081:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BH GSO ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
OS GSO ISO 29081:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
BH GSO ISO 20903:2016 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

British Standards Institution (BSI), Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
23/30469291 DC BS ISO 17973. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BS ISO 24236:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad

SCC, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

BS ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS PD ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
ASTM E983-04 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
BS ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
10/30199172 DC BS ISO 16242. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
GB/T 26533-2011 Reglas generales para el análisis espectroscópico de electrones Auger.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 29558-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica Auger. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 25187-2024 Expresión de parámetros de rendimiento de instrumentos para análisis químico de superficies Espectroscopia electrónica Auger
GB/T 28893-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X Métodos para determinar las intensidades de los picos e información necesaria para informar los resultados
GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

Professional Standard - Machinery, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

JB/T 6976-1993 Método de identificación de elementos de espectroscopía electrónica de Auger

Standard Association of Australia （SAA）, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

AS ISO 18118:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

GB/T 36504-2018 Guía para el análisis de la contaminación de la superficie de la placa de circuito impreso: espectroscopia electrónica Auger
GB/T 36533-2018 Determinación del estado químico del microhierro en silicato: espectroscopía electrónica Auger

Association Francaise de Normalisation, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de la escala de energía
NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES).
NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia electrónica de barrena (AES)

German Institute for Standardization, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

DIN ISO 16242 E:2019-10 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
DIN ISO 16242:2020-05 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES) (ISO 16242:2011); Texto en ingles

BSI, Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

BS ISO 17973:2024 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Sensibilidad de la espectroscopía electrónica Auger.

JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
JIS C 8915:1989 Métodos de medición de la respuesta espectral de células solares cristalinas.
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados