fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

fluorescencia de rayos de difracción de rayos x, Total: 189 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fluorescencia de rayos de difracción de rayos x son: Protección de radiación, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, ingeniería de energía nuclear, Equipo de minería, Centrales eléctricas en general, Mediciones de radiación, Vocabularios, pruebas de metales, Metales ferrosos, Materiales de construcción, Fotografía, Educación, Equipo medico, Metales no ferrosos, Productos de hierro y acero., Refractarios, Minerales metalíferos, Pruebas no destructivas, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Plástica, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Productos petrolíferos en general, Productos de la industria química., Ferroaleaciones, Metrología y medición en general., muelles, Residuos, Materiales semiconductores.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 19140-2003 Reglas tecnológicas para el análisis de fluorescencia de rayos X de cementos.
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies

American National Standards Institute （ANSI), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • ANSI/HPS N43.2-2021 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X

National Health Commission of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GBZ 115-2023 Normas para la protección radiológica de dispositivos de radiación de baja energía

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

SCC, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

Professional Standard - Machinery, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • DB32/T 4249-2021 Requisitos de protección de la salud radiológica para dispositivos de rayos de baja energía

Professional Standard - Agriculture, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

PT-IPQ, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

Society of Automotive Engineers (SAE), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS A 4911-1980(2000) DIMENSIONES PARA PANTALLA FLUORESCENTE DE RAYOS X
  • KS M 0017-2010 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS D 1655-2008(2024) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1654-2021 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1898-1993 Método para el análisis de rayos X fluorescentes de aleaciones de cobre.
  • KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
  • KS D 1655-2008 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1898-2009 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
  • KS D 1655-2008(2019)(英文版) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS L 5222-2009 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
  • KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS D 1686-2011 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS M 0017-2020 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS D 1655-2019 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS E 3045-2002(2007) Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
  • KS L 5222-2019 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
  • KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 1654-2003 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS D 2597-1996 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
  • KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS L 3316-2019 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 1686-2021 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.

Professional Standard - Nuclear Industry, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • EJ/T 1100-1999 Aparato de perforación para análisis de fluorescencia de rayos X.
  • EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
  • EJ/T 1068-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de plutonio-238 para rayos X
  • EJ/T 1067-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de americio-241 para rayos X
  • EJ/T 805-1993 Fuentes de fotones de baja energía para análisis de fluorescencia de rayos X
  • EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil

工业和信息化部, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • JB/T 14323-2021 Máquina clasificadora de fluorescencia de rayos X
  • YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
  • YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
  • SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

Professional Standard - Energy and Power Planning, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.
  • DL/T 1151.22-2023 Métodos de análisis de incrustaciones y productos de corrosión en centrales térmicas. Parte 22: Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva y difracción de rayos X.

Association of German Mechanical Engineers, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

German Institute for Standardization, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 51003 E:2021-05 Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF): principios y términos generales
  • DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 51003:2022 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones
  • DIN 51003:2022-05 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones
  • DIN 51003:2004 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones
  • DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 51418-1 E:2007 Borrador de documento - Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 6830-1:1975 Películas de rayos X médicas utilizadas con pantallas intensificadoras; Simulación sensitométrica de la radiación fluorescente de pantallas intensificadoras de tungstato de calcio.
  • DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51003 E:2021 Borrador de documento - Fluorescencia de rayos X de reflexión total - Principios y definiciones
  • DIN 51418-2 E:2014 Borrador de documento - Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51418-2 E:2014-06 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura (IEC 62495:2011)
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo

Gosstandart of Russia, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GOST 28033-1989 Acero. Método de análisis de fluorescencia de rayos X.
  • GOST R 55410-2013 Refractario. Análisis por fluorescencia de rayos X (XRF)
  • GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • GOST R 53203-2008 Productos derivados del petróleo. Determinación de azufre mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GOST 6912.2-1993 Alúmina. Método difraccial de rayos X para la determinación de alfa-óxido-aluminio
  • GOST R 50152-1992 Alúmina. Método de difracción de rayos X para determinar el óxido de aluminio alfa.

American Society for Testing and Materials (ASTM), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM F3094-14(2022) Método de prueba estándar para determinar la protección proporcionada por prendas de protección contra rayos X utilizadas en fluoroscopia de rayos X médica contra fuentes de rayos X dispersos
  • ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

Universal Oil Products Company (UOP), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

AT-ON, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • ONORM S 5240-10-1998 Aseguramiento de la calidad de la imagen en el diagnóstico por rayos X - Pruebas de aceptación en sistemas de rayos X radiográficos y fluoroscópicos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • JIS K 0119:2008 Reglas generales para el análisis de fluorescencia de rayos X.
  • JIS K 0119:1997 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS Z 4911:1989 Dimensiones y forma de la pantalla fluorescente de rayos X.
  • JSA JIS G 1256 AMD 1 Hierro y acero: espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • JSA JIS G 1256 Espectrometría de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • JIS H 1292:2018 Aleaciones de cobre - Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS G 1256:1982 Método de análisis de rayos X de fluorescencia del acero.
  • JIS M 8205:1983 Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
  • JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • JIS H 1292:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
  • JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS Z 4910:1983 Rejillas antidispersión
  • JIS H 1292:1997 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 Hierro y acero. Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 2)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
  • JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
  • JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos
  • JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
  • JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

Professional Standard - Building Materials, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

ECIA - Electronic Components Industry Association, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • CB-13-1990 Fluorescencia de rayos X para medir el espesor del revestimiento

Professional Standard - Education, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
  • JY/T 0569-2020 Reglas generales para la espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

Professional Standard - Geology, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • DZ 0029-1992 Instrumento de fluorescencia de rayos X de microordenador HYX-3

国家能源局, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SY/T 7420-2018 Especificaciones de registro de elementos de espectroscopia de fluorescencia de rayos X
  • SY/T 7324-2016 Método de calibración del instrumento de registro de fluorescencia de rayos X

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • ECA CB-13-1990 Fluorescencia de rayos X para medir el espesor del revestimiento

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • YB/T 4177-2008 Determinación de la composición química en ciervos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.

国家质量监督检验检疫总局, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SN/T 4760-2017 Método de difracción de rayos X para la identificación de concentrados de zinc importados

Professional Standard - Medicine, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • YY/T 0094-2004 Pantallas fluorescentes de rayos X para diagnóstico médico
  • YY/T 0094-2013 Pantallas fluorescentes de rayos X para diagnóstico médico

GSO, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • BH GSO IEC 62495:2016 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura.
  • OS GSO IEC 62495:2014 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • JJF 1952-2021 Especificación de calibración para analizadores de espectrometría de fluorescencia de rayos X de azufre
  • JJF 1306-2011 Especificación de calibración para instrumentos de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X
  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva

International Organization for Standardization (ISO), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua

Professional Standard - Commodity Inspection, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SN/T 3975-2014 El método de identificación del mineral de bauxita es el método de difracción de rayos X.
  • SN/T 3231-2012 Determinación de amianto en talco. Microscopio de luz polarizada y método de difracción de rayos X.
  • SN/T 4020-2013 Determinación del contenido de elementos de impureza en hierro puro. Espectrometría de fluorescencia de rayos X

Bureau of Indian Standards, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • IS 17182-2020 Mediciones de tensión residual basadas en difracción de rayos X

Professional Standard - Public Safety Standards, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GA/T 2079-2023 Ciencia forense Pruebas de minerales Difracción de rayos X

Group Standards of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • T/CAIA SH003-2015 Arroz －Determinación de cadmio－¿Método de espectrometría de fluorescencia de rayos X?
  • T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
  • T/CACE 064-2022 Determinación de composiciones de escoria de gasificación de carbón: método espectrométrico de fluorescencia de rayos X

SE-SIS, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SIS SS IEC 627:1986 Equipos de rayos X - Características de las rejillas antidispersión utilizadas en los equipos de rayos X
  • SIS SS IEC 520:1989 Equipos de rayos X. Tamaños de campo de entrada de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos.

British Standards Institution (BSI), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
  • GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.

水利部, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SL 536-2011 Método de calibración del dispositivo de medición de tensión por difracción de rayos X.

International Electrotechnical Commission (IEC), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • GB/T 36017-2018 Instrumentos de prueba no destructivos: tubo de análisis de fluorescencia de rayos X
  • GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Association for Electrical, Electronic & Information Technologies (VDE), fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • VDE 0412-20-2011 Strahlungsmessgeraete - Tragbare Roentgenfluoreszenz-Analysegeraete mit Kleinstroentgenroehre (IEC 62495:2011)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • CNS 11942-23-2000 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.

Standard Association of Australia （SAA）, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • AS 2563:1996 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda: determinación de la precisión
  • AS 2563:1996(R2016) Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda: determinación de la precisión

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • DB44/T 1602-2015 Método de análisis de la composición de la piedra: espectrometría de fluorescencia de rayos X

Professional Standard - Electron, fluorescencia de rayos de difracción de rayos x

  • SJ 20714-1998 Método de prueba para determinar el daño subsuperficial de una oblea pulida con arseniuro de galio mediante difracción de doble cristal de rayos X

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