GB/T 4937.31-2023 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente) (Versión en inglés)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
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GB/T 4937.31-2023
GB/T 4937.31-2023 Historia
2023GB/T 4937.31-2023 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)