GB/T 4937.12-2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable. (Versión en inglés)
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GB/T 4937.12-2018
Estándar No.
GB/T 4937.12-2018
Idiomas
Chino,
Disponible en inglés
Fecha de publicación
2018
Organización
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
Ultima versión
GB/T 4937.12-2018
GB/T 4937.12-2018 Historia
2018
GB/T 4937.12-2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
GB/T 4937.12-2018 - Все части
GB/T 4937.1-2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades
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GB/T 4937.12-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
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GB/T 4937.15-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
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GB/T 4937.19-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.
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GB/T 4937.20-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los SMD encapsulados en plástico al efecto combinado de la humedad y el calor de soldadura.
GB/T 4937.201-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manipulación, embalaje, etiquetado y envío de dispositivos de montaje superficial sensibles al efecto combinado de la humedad y el calor de soldadura.
GB/T 4937.21-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad.
GB/T 4937.22-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión.
GB/T 4937.23-2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
GB/T 4937.26-2023 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 26: Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD) Modelo de cuerpo humano (HBM)
GB/T 4937.27-2023 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 27: Modelo de máquina de prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD) (MM)
GB/T 4937.3-2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 3: Examen visual externo.
GB/T 4937.30-2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.
GB/T 4937.31-2023 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)
GB/T 4937.32-2023 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida externamente)
GB/T 4937.4-2012v Métodos de prueba climática y mecánica de dispositivos semiconductores Parte 4: Prueba de calor húmedo en estado estacionario altamente acelerado (HAST)
GB/T 4937.42-2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 42: Almacenamiento de temperatura y humedad.
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