MSZ EN 60749-5:2003
Herramientas de introducción. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de vida útil bajo temperatura constante, humedad del aire y solicitación eléctrica (IEC 60749-5:2003)

Estándar No.
MSZ EN 60749-5:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
Magyar Szabványügyi Testület
Estado
Remplazado por
MSZ EN 60749-5:2017
Ultima versión
MSZ EN 60749-5:2017
 

Alcance
Esta parte de la norma IEC 60749 establece una prueba de vida en régimen estacionario bajo condiciones de temperatura y humedad, con el objetivo de evaluar la fiabilidad de los dispositivos de estado sólido encapsulados de manera no hermética en ambientes húmedos. NOTA: Esta prueba se ajusta, en general, a la norma IEC 600...

MSZ EN 60749-5:2003 Historia

  • 2017 MSZ EN 60749-5:2017 Dispositivos de acogida. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de vida útil bajo temperatura constante, humedad ambiental y esfuerzo eléctrico (IEC 60749-5:2017)
  • 2003 MSZ EN 60749-5:2003 Herramientas de introducción. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de vida útil bajo temperatura constante, humedad del aire y solicitación eléctrica (IEC 60749-5:2003)

estándares y especificaciones

IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DIN EN 60749-5 E:2016-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura LST EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos a nivel de pastillas. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5. Ensayo de duración bajo carga eléctrica, calor constante y humedad (IEC IEC 60749-5:2023 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DANSK DS/EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura LST EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de duración de funcionamiento bajo carga eléctrica, calor constante DIN EN 60749-4 E:2016-06 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Prueba de calor húmedo, constante y altamente acelerada (HAST DIN EN IEC 60749-30 E:2019-09 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos STAS 10369-1975 MATERIALES AISLANTES ELÉCTRICOS SÓLIDOS Métodos de prueba para determinar la resistencia relativa a la rotura por descargas superficiales LST EN IEC 61300-2-46:2019 Dispositivos de interconexión óptica y componentes pasivos. Procedimientos principales de ensayo y medida. Parte 2-46: Ensayos. Envejecimiento cíclico



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