IEEE 1838-2019
Estándar IEEE para arquitectura de acceso a pruebas para circuitos integrados apilados tridimensionales

Estándar No.

IEEE 1838-2019

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE 1838-2019

IEEE 1838-2019 Historia

• 1970 IEEE 1838-2019 Estándar IEEE para arquitectura de acceso a pruebas para circuitos integrados apilados tridimensionales