DANSK DS/EN 62374-1:2011
Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

Estándar No.
DANSK DS/EN 62374-1:2011
Fecha de publicación
2011
Organización
Danish Standards Foundation
Ultima versión
DANSK DS/EN 62374-1:2011
 
Introducción
Este documento técnico establece normas para la evaluación del rendimiento de los dispositivos semiconductores mediante pruebas de ruptura dieléctrica intermetálico a lo largo del tiempo (TDDB). Se aplica específicamente a la primera parte del estándar que cubre las condiciones y métodos de prueba. La guía proporciona detalles sobre el entorno de prueba, los procedimientos experimentales y cómo interpretar los resultados obtenidos en relación con el fenómeno TDDB.

DANSK DS/EN 62374-1:2011 Historia

  • 2011 DANSK DS/EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

estándares y especificaciones

IEC 62374-1:2010 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas DS/EN 62374-1/AC:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas DS/EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas GSO IEC 62374-1:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas OS GSO IEC 62374-1:2013 semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas NF EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas BS EN 62374-1:2010(2011 Dispositivos semiconductores Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas DANSK DS/EN 62374-1/AC:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas NF C96-017-1*NF EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas. CEI EN 62374-1:2012 Dispositivos semiconductores Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas


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