DS/EN 62374-1:2011
Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

Estándar No.

DS/EN 62374-1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Danish Standards Foundation

Estado

ser reemplazado 2011-07

Remplazado por

DS/EN 62374-1/AC:2011

Ultima versión

DS/EN 62374-1/AC:2011

Reemplazar

DS/EN 62374-2007

Alcance

IEC 62374-1:2010 describe un método de prueba, una estructura de prueba y un método de estimación de la vida útil de la prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas aplicadas en dispositivos semiconductores.

DS/EN 62374-1:2011 Historia

• 2011 DS/EN 62374-1/AC:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas
• 2011 DS/EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

estándares y especificaciones