PN T01505-18-1987
Transistores de efecto de campo Método de medición Capacitancia de transferencia inversa de fuente común con entrada en cortocircuito Cl2j.s

Estándar No.
PN T01505-18-1987
Fecha de publicación
1987
Organización
PL-PKN
Ultima versión
PN T01505-18-1987
Alcance
¿El tema de la norma es un método para medir la capacidad de retorno de Cu? en un sistema fuente común con salida en cortocircuito para transistores de efecto de campo tipo A, B, C.

PN T01505-18-1987 Historia

  • 1987 PN T01505-18-1987 Transistores de efecto de campo Método de medición Capacitancia de transferencia inversa de fuente común con entrada en cortocircuito Cl2j.s

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