DS/EN 60444-4:1998
Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi. Parte 4: Método para medir la frecuencia de resonancia de carga fL, la resistencia de resonancia de carga RL y el cálculo de otros valores derivados de unidades de cristal de cuarzo.

Estándar No.: DS/EN 60444-4:1998
Fecha de publicación: 1998
Organización: Danish Standards Foundation
Ultima versión: DS/EN 60444-4:1998

Alcance: Este informe especifica un método simple para medir la frecuencia de resonancia de carga fL y la resistencia de resonancia de carga RL en el rango de frecuencia de hasta 30 MHz. Estas mediciones permiten calcular la compensación de frecuencia de resonancia de carga fL, el rango de tracción de frecuencia fL1,L2 y la sensibilidad de tracción S como se describe en la Enmienda No. 1 a la Publicación IEC 122-1. El método utiliza el cambio en la frecuencia de resonancia de fr a fL (es decir, fL) que se produce cuando se inserta una capacitancia de carga CL en serie con la unidad de cristal.

DS/EN 60444-4:1998 Historia

1998 DS/EN 60444-4:1998 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo mediante técnica de fase cero en una red pi. Parte 4: Método para medir la frecuencia de resonancia de carga fL, la resistencia de resonancia de carga RL y el cálculo de otros valores derivados de unidades de cristal de cuarzo.

Temas especiales sobre estándares y normas

Frecuencia de resonancia Método de cálculo del poder de excitación del cristal de cuarzo.

estándares y especificaciones

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