Este informe especifica un método simple para medir la frecuencia de resonancia de carga fL y la resistencia de resonancia de carga RL en el rango de frecuencia de hasta 30 MHz. Estas mediciones permiten calcular la compensación de frecuencia de resonancia de carga fL, el rango de tracción de frecuencia fL1,L2 y la sensibilidad de tracción S como se describe en la Enmienda No. 1 a la Publicación IEC 122-1. El método utiliza el cambio en la frecuencia de resonancia de fr a fL (es decir, fL) que se produce cuando se inserta una capacitancia de carga CL en serie con la unidad de cristal.