BS EN IEC 61837-2:2018
Dispositivos piezoeléctricos de superficie para control y selección de frecuencia. Contornos estándar y conexiones de cables terminales. Cerramientos cerámicos

Estándar No.
BS EN IEC 61837-2:2018
Fecha de publicación
2018
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
 2020-11
Remplazado por
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Ultima versión
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Reemplazar
BS EN 61837-2-2011+A1:2014

BS EN IEC 61837-2:2018 Documento de referencia

  • EN 60122-3:2010 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
  • EN 60191-6:2009 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6: Reglas generales para la preparación de dibujos esquemáticos de paquetes de dispositivos semiconductores montados en superficie
  • EN 60368-1:2000 Filtros piezoeléctricos de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica (Incorpora la Enmienda A1: 2004)
  • EN 60368-2-2:1999 Filtros piezoeléctricos - Parte 2: Guía para el uso de filtros piezoeléctricos - Sección 2: Filtros cerámicos piezoeléctricos
  • EN 60368-3:2010 Filtros piezoeléctricos de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.*2023-10-31 Actualizar
  • EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
  • EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
  • EN 60862-1:2015 Filtros de ondas acústicas de superficie (SAW) de calidad evaluada - Parte 1: Especificaciones genéricas
  • EN 60862-2:2012 Filtros de ondas acústicas de superficie (SAW) de calidad evaluada - Parte 2: Directrices para su uso
  • EN 61019-2:2005 Resonadores de ondas acústicas de superficie (SAW) Parte 2: Guía de uso
  • EN 61240:2012 Dispositivos piezoeléctricos - Elaboración de esquemas de dispositivos de superficie (SMD) para control y selección de frecuencia - Reglas generales*2023-10-31 Actualizar
  • EN ISO 1101:2017 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Tolerancias geométricas - Tolerancias de forma@orientación@ubicación y excentricidad
  • IEC 60122-2:1983 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia. Parte 2: Guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia.
  • IEC 60122-3:2010 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
  • IEC 60191-6:2009 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6: Reglas generales para la preparación de dibujos esquemáticos de paquetes de dispositivos semiconductores montados en superficie
  • IEC 60368-1:2000 Filtros piezoeléctricos de calidad evaluada - Parte 1: Especificaciones genéricas
  • IEC 60368-2-2:1996 Filtros piezoeléctricos - Parte 2: Guía para el uso de filtros piezoeléctricos - Sección 2: Filtros cerámicos piezoeléctricos
  • IEC 60368-3:2010 Filtros piezoeléctricos de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
  • IEC 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
  • IEC 60679-3:2012 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
  • IEC 60862-1:2015 Filtros de ondas acústicas de superficie (SAW) de calidad evaluada - Parte 1: Especificaciones genéricas
  • IEC 60862-2:2012 Filtros de ondas acústicas de superficie (SAW) de calidad evaluada - Parte 2: Guía de uso
  • IEC 61 Casquillos y portalámparas junto con indicadores para el control de la intercambiabilidad y la seguridad; parte 4: directrices e información general; suplemento 1 a IEC 61-4(1990)
  • IEC 61019-1:2004 Resonadores de ondas acústicas de superficie (SAW) - Parte 1: Especificaciones genéricas
  • IEC 61240:2016 Dispositivos piezoeléctricos - Elaboración de esquemas de dispositivos de superficie (SMD) para control y selección de frecuencia - Reglas generales
  • ISO 1101:2017 Especificaciones geométricas del producto (GPS) - Tolerancias geométricas - Tolerancias de forma, orientación, ubicación y alabeo

BS EN IEC 61837-2:2018 Historia

  • 2020 BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020 Dispositivos piezoeléctricos de superficie para control y selección de frecuencia. Esquemas estándar y conexiones de cables terminales: gabinetes cerámicos
  • 2018 BS EN IEC 61837-2:2018 Dispositivos piezoeléctricos de superficie para control y selección de frecuencia. Contornos estándar y conexiones de cables terminales. Cerramientos cerámicos
  • 0000 BS EN 61837-2-2011+A1:2014



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