DS/IEC 747-3:1993
Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 3: Diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores

Estándar No.
DS/IEC 747-3:1993
Fecha de publicación
1993
Organización
Danish Standards Foundation
Estado
 1993-04
Remplazado por
DS/IEC 747-3+Amd.1:1993
Ultima versión
DS/IEC 747-3+Amd.1:1993
 
Alcance
Halvlederelementer Diskrete elementer og integrerede kredse Del 3: Signaldioder (inklusive koblingsdioder) og stabilisatordioder Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 3: Diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores.

DS/IEC 747-3:1993 Historia

  • 1993 DS/IEC 747-3+Amd.1:1993 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 3: Diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores.
  • 1986 DS/IEC 747-3:1986 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 3: Diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores

estándares y especificaciones

DS/IEC 747-3+Amd.1:1993 semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 3: Diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores. NF C96-003:1986 semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 3: diodos de señal (incluida la conmutación) y reguladores. GSO IEC 60748-4-1:2013 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 4: Circuitos integrados de interfaz - Sección 1: Especificación detallada en blanco IEC 60147-1:1963 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones DS/EN 60749-8+Corr.2:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado NF C96-010:1989 Componentes electrónicos Dispositivos semiconductores Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados DIN EN 60749-1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); Versión alemana EN 60749-1:2003 DIN EN 60749-8:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); Versión alemana IEC 60749-17:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones


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