Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones. son: Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Pruebas no destructivas, Componentes electrónicos en general., Cereales, legumbres y productos derivados, Medidas lineales y angulares., Metales no ferrosos, Mediciones de radiación, Radiocomunicaciones, ingeniería de energía nuclear, Materiales semiconductores, Productos petrolíferos en general, Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo óptico, Combustibles.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E1015-90 Métodos para informar espectros en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ASTM E2735-14(2020) Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-15 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-24 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X

British Standards Institution (BSI), Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 4037-3:1999 Radiaciones de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía de los fotones. Calibración de dosímetros de área y personales y medición de su respuesta en función de la energía y
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS ISO 19318:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
BS 2000-336:2003 Métodos de prueba para el petróleo y sus productos - Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de azufre - Espectrometría de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
BS ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

German Institute for Standardization, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 16129 E:2020-01 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 16129 E:2020 Borrador de documento - Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 15472 E:2019-09 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN ISO 13695:2004 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para las características espectrales de los láseres (ISO 13695:2004); Versión alemana EN ISO 13695:2004

International Organization for Standardization (ISO), Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 15472:2001/DAmd 1 Análisis químico de superficies. Espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X. Calibración energética. Enmienda 1.
ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
ISO 18118:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo.
ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
ISO 13695:2004 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para las características espectrales de los láseres
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

GSO, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

OS GSO ISO 16129:2014 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
BH GSO ISO 16129:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
BH GSO ISO 19830:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GSO ISO 19830:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
OS GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BH GSO ISO 18516:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BH GSO ISO 21270:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
OS GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
OS GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
BH GSO ISO 10810:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
BH GSO ISO 15472:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
GSO ISO 15470:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
GSO ISO 14701:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
GSO ISO/TR 18392:2013 Análisis químico de superficies -- Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X -- Procedimientos para la determinación de fondos
OS GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
BH GSO ISO 20903:2016 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
OS GSO ISO 13424:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
GSO ISO 13424:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
BH GSO ISO 13424:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Informes de resultados de análisis de películas finas
GSO ISO 20903:2013 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BH GSO ISO 16243:2017 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
GSO ISO 16243:2015 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
OS GSO ISO 16243:2015 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
GSO ISO 18118:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

SCC, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

11/30230635 DC BS ISO 16129. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
AWWA 51768 Identificación de fallas en la membrana de ósmosis inversa de baja presión mediante espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de básculas de energía.
BS 5869:1980 Especificación de radiaciones de referencia X y γ para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón.
09/30191895 DC BS ISO 10810. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
VDI 4008 BLATT 7-1986 Función estructural y su aplicación.
BS ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS ISO 19318:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
10/30212265 DC BS ISO 14701. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS PD ISO/TR 19319:2003 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistos por el analizador
BS ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 33352-2024 Reglas generales de aplicación para la detección de sustancias restringidas en productos electrónicos y eléctricos. Espectrometría de fluorescencia de rayos X.
GB/T 33352-2016e Normas generales para la aplicación de pruebas de detección de sustancias restringidas en productos eléctricos y electrónicos: espectrometría de fluorescencia de rayos X
GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 31472-2015 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 28892-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X Expresión de parámetros de rendimiento del instrumento seleccionado
GB/T 28893-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X Métodos para determinar las intensidades de los picos e información necesaria para informar los resultados
GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

Professional Standard - Electron, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
SJ/Z 3206.3-1989 Instrumento y sus requisitos de rendimiento para la determinación del espectro de emisión.
SJ/Z 3206.2-1989 Fuente láser y sus requisitos de rendimiento para la determinación del espectro de emisión.
SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

GB/T 33352-2016 Reglas generales para la aplicación de detección de sustancias restringidas en productos eléctricos y electrónicos: espectrometría de fluorescencia de rayos X
GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

Group Standards of the People's Republic of China, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

T/KJFX 002-2017 Determinación rápida de cadmio en arroz y sus productos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
T/CSTM 01199-2024 Película metálica multicapa-Método de medición y análisis de la estructura de capas-Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
T/IMPCA 0001-2021 Método de prueba para el análisis del espectro de fluorescencia de rayos X de elementos de aleación en acero y sus productos de plantas químicas.

SE-SIS, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

SIS SS-ISO 4037:1985 Radiaciones de referencia X e y para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

Association Francaise de Normalisation, Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF M60-512:1984 RADIACIONES DE REFERENCIA X Y GAMMA PARA CALIBRAR DOSÍMETROS Y DOSÍMETROS Y PARA DETERMINAR SU RESPUESTA EN FUNCIÓN DE LA ENERGÍA DEL FOTON.
NF A08-001:1979 Analyse chimique des métaux et alliages légers - Aplicación de la espectrometría de absorción atómica al análisis del aluminio, del magnesio y de los alliages
NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
NF M60-513:1990 RADIACIONES DE REFERENCIA X Y GAMMA PARA CALIBRAR DOSÍMETROS Y DOSÍMETROS Y PARA DETERMINAR SU RESPUESTA EN FUNCIÓN DE LA ENERGÍA DEL FOTON. RADIACIONES DE REFERENCIA DE FOTONES A ENERGÍAS ENTRE 4 MEV Y 9 MEV.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
NF S10-126*NF EN ISO 13695:2005 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para las características espectrales de los láseres

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y sus aplicaciones.

KS D ISO 21270-2020 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
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