Parámetros de escaneo SEM
Parámetros de escaneo SEM, Total: 200 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros de escaneo SEM son: Equipo óptico, Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Materiales de construcción, Vocabularios, Educación, Optoelectrónica. Equipo láser, Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Calidad del aire, Dispositivos de visualización electrónica., Pruebas mecánicas, Ergonomía, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Tecnología gráfica, Termodinámica y mediciones de temperatura., Protección contra el crimen, Ayudas para personas discapacitadas o discapacitadas, Pinturas y barnices, Fotografía, pruebas de metales, Fibras textiles, Elementos de edificios., Tecnología de la información (TI) en general, Protección de radiación, Medicina de laboratorio, Redes.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Parámetros de escaneo SEM
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
International Organization for Standardization (ISO), Parámetros de escaneo SEM
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO 17097:2024 Datos de escaneo del cuerpo humano en 3D: métodos para el procesamiento de datos de escaneo del cuerpo humano
- ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- ISO/DIS 17097:2023 Datos de escaneo del cuerpo humano en 3D. Parte 1: Terminologías y metodologías para el procesamiento de datos de escaneo del cuerpo humano.
- ISO/IEC 17991:2021 Tecnología de la información - Equipos de oficina - Método para medir la productividad de escaneo de dispositivos de escaneo digital
- ISO/CD 17097 Datos de escaneo digital 3D del cuerpo humano. Parte 1: Terminologías y metodologías para el procesamiento de datos de escaneo humano.
- ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
- ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
- ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
- ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
Group Standards of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
- T/SPSTS 032-2023 Especificaciones generales para microscopía electroquímica de barrido.
- T/COEMA 21O-2024 Espejo de escaneo poligonal para LIDAR
- T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido
- T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
- T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
- T/ZZB 0608-2018 escáner dental 3D
- T/SPSTS 030-2023 Medición del tamaño de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
- T/SCSISH 0002-2022 Estándar de tecnología digital de escaneo 3D de muro cortina
- T/CNIA 0161-2023 Método para inspeccionar la microestructura y morfología de aluminio deformado y aleaciones de aluminio. Método de microscopía electrónica de barrido.
- T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
- T/CMAIA 002-2023 Escáner de piel inteligente 3D
- T/WSJD 54-2024 Directrices para establecer niveles de referencia diagnósticos para tomografías computarizadas en niños
American Society for Testing and Materials (ASTM), Parámetros de escaneo SEM
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2024) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-14e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
- ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
- ASTM C1723-16 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
Professional Standard - Machinery, Parámetros de escaneo SEM
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
- JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido
- JB/T 5478-1991 Espectrómetro fotoeléctrico de lectura directa de barrido manual
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
- JJG 936-2012 Calorímetros de barrido diferencial
U.S. Military Regulations and Norms, Parámetros de escaneo SEM
SCC, Parámetros de escaneo SEM
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Normas sobre la definición y calibración de la resolución espacial de la Microscopía de Resistencia a la Difusión de Barrido y la Microscopía de Capacitancia de Barrido
- BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- BS DISC PD 0016:2001 Escaneo de documentos. Guía para escanear documentos comerciales
- BS PD 0016:2001 Escaneo de documentos. Guía para escanear documentos comerciales
- 06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Determinación del amianto en productos técnicos: método de microscopía electrónica de barrido
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Determinación del amianto en productos técnicos: método de microscopía electrónica de barrido
- BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- NACE AMPP TM21610-2022 Escaneos potenciodinámicos: preparación de materiales, adquisición y análisis de datos
- VDI/VDE 5565 BLATT 1:2023 Tomografía de coherencia óptica (OCT): descripciones de procedimientos
- AENOR UNE 57083:1974 Papel. Cintas de papel, para uso en equipos de escaneo electrónico.
American Water Works Association (AWWA), Parámetros de escaneo SEM
- AWWA ACE56156 Evaluación de patrones de contaminación de la superficie de la membrana mediante un escáner de superficie plana y un microscopio electrónico de barrido
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Parámetros de escaneo SEM
- GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido
- GJB 8288-2014 Reglamento de verificación para el sistema de cámara de racha de espejo giratorio de velocidad ultraalta
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Parámetros de escaneo SEM
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
- GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
British Standards Institution (BSI), Parámetros de escaneo SEM
- BS ISO 17097:2024 Datos de escaneo del cuerpo humano en 3-D. Métodos para el procesamiento de datos de escaneo del cuerpo humano.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- 23/30461186 DC BS ISO 17097. Datos de escaneo 3-D del cuerpo humano - Parte 1. Terminologías y metodologías para el procesamiento de datos de escaneo humano
- BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
- BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
- BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- 20/30372386 DC BS ISO/IEC 17991. Tecnología de la información. Equipo de oficina. Método para medir la productividad de escaneo de dispositivos de escaneo digital.
- 24/30457668 DC BS ISO/IEC 16466. Tecnología de la información. Impresión y escaneo 3D. Métodos de evaluación de datos escaneados en 3D para modelos de impresión 3D
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
- BS ISO 16067-1:2003 Fotografía. Mediciones de resolución espacial para escáneres electrónicos de imágenes fotográficas. Escáneres para medios reflectantes
Danish Standards Foundation, Parámetros de escaneo SEM
- DANSK DS/ISO 17097:2024 Datos de escaneo del cuerpo humano en 3D: métodos para el procesamiento de datos de escaneo del cuerpo humano
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
- DS/EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros de escaneo SEM
- KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
- KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
- KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2021 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS A 5555-2-2023 Datos de escaneos digitales del cuerpo humano en 3D. Parte 2: Métodos y consideraciones para un análisis de datos de escaneos humanos.
- KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
- KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS D 2713-2021 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
- KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS A ISO 16067-2-2020 Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
Professional Standard - Commodity Inspection, Parámetros de escaneo SEM
- SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
- SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
- GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
- GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
- GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
- GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
- GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
- GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
- GB/T 17362-1998 Método no destructivo de análisis EDS por rayos X con SEM para joyería de oro
- GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
- GB/T 17359-1998 Especificación general del análisis cuantitativo EDS de rayos X para EPMA y SEM
- GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
GSO, Parámetros de escaneo SEM
- BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
- BH GSO ISO 28600:2016 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
- GSO ISO 28600:2013 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
- GSO ISO 16067-2:2013 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
- GSO ISO/TS 24597:2013 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica de barrido -- Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
Professional Standard - Education, Parámetros de escaneo SEM
- JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
- JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
- JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
- JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Parámetros de escaneo SEM
- SMPTE 293M-2003 Televisión - Línea Activa 720 X 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Representación Digital
- SMPTE 294M-2001 Televisión Línea Activa 720 X 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Interfaces Bit-Serial
- SMPTE RP 86-1991 Parámetros de grabación de vídeo para grabación en cinta de televisión con barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada
- SMPTE ST 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
- SMPTE 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
- SMPTE ST 2016-2-2014 Formato para información de Pan-Scan
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
国家能源局, Parámetros de escaneo SEM
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
Professional Standard - Petroleum, Parámetros de escaneo SEM
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 0545-2012 Determinación de parámetros térmicos característicos de la precipitación de cera en calorimetría diferencial de barrido de petróleo crudo
- SY/T 0545-2012 Determinación de parámetros de propiedades térmicas de la precipitación de ceras en petróleo crudo. Método de prueba por calorimetría diferencial de barrido.
- SY/T 0545-1995 Determinación de parámetros térmicos característicos de la precipitación de cera en calorimetría diferencial de barrido de petróleo crudo
IN-BIS, Parámetros de escaneo SEM
Association of German Mechanical Engineers, Parámetros de escaneo SEM
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
International Telecommunication Union (ITU), Parámetros de escaneo SEM
ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Parámetros de escaneo SEM
- ITU-R BT.1358-1998 Parámetros de estudio de los sistemas de televisión de barrido progresivo de 625 y 525 líneas
Bureau of Indian Standards, Parámetros de escaneo SEM
- IS/ISO/IEC 17991-2021 Tecnologías de la información - Equipos de oficina - Método para medir la productividad de escaneo de dispositivos de escaneo digital
国家质量监督检验检疫总局, Parámetros de escaneo SEM
- SN/T 4704-2016 Detección isotérmica de parámetros cinéticos Calorimetría diferencial de barrido
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Parámetros de escaneo SEM
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
- DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM
- DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz
Professional Standard - Judicatory, Parámetros de escaneo SEM
- SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Parámetros de escaneo SEM
- VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
- VDI 3866 Blatt 5-2003 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Parámetros de escaneo SEM
- GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
- GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
SE-SIS, Parámetros de escaneo SEM
- SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
- SIS SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos. Mediciones del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
工业和信息化部/国家能源局, Parámetros de escaneo SEM
Association Francaise de Normalisation, Parámetros de escaneo SEM
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
Gosstandart of Russia, Parámetros de escaneo SEM
- GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
American National Standards Institute （ANSI), Parámetros de escaneo SEM
European Committee for Standardization (CEN), Parámetros de escaneo SEM
- EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
German Institute for Standardization, Parámetros de escaneo SEM
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
Professional Standard - Chemical Industry, Parámetros de escaneo SEM
- HG/T 3640-1999 Fotografía. Dimensión de la película. Película para uso en escáner electrónico.
Spanish Association for Standardization (UNE), Parámetros de escaneo SEM
- UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
工业和信息化部, Parámetros de escaneo SEM
- YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
- JB/T 13390-2018 Termómetro de escaneo infrarrojo
BE-NBN, Parámetros de escaneo SEM
ATIS - Alliance for Telecommunications Industry Solutions, Parámetros de escaneo SEM
- 0300102-2011 Resultados de las pruebas del escáner según la especificación de prueba ATIS-0300085 @ BCSC para el escaneo de etiquetas de productos
Society of Automotive Engineers (SAE), Parámetros de escaneo SEM
Alliance of Telecommunications Industry Solutions （ATIS), Parámetros de escaneo SEM
- ATIS 0300102-2011 Resultados de las pruebas del escáner según ATIS-0300085, especificación de prueba BCSC para escaneo de etiquetas de productos
Professional Standard - Medicine, Parámetros de escaneo SEM