Medición de cristales con microscopio electrónico

Medición de cristales con microscopio electrónico, Total: 155 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición de cristales con microscopio electrónico son: Química analítica, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Calidad del aire, Sistemas de energía fluida, Productos de la industria química., producción de metales, pruebas de metales, Tratamiento superficial y revestimiento., Física. Química, Metrología y medición en general., Materiales de construcción, Materiales para la construcción aeroespacial., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Condiciones y procedimientos de prueba en general..

British Standards Institution (BSI), Medición de cristales con microscopio electrónico

BS ISO 19214:2024 Análisis de microhaz. Microscopio electrónico analítico. Método de determinación de la dirección aparente de crecimiento de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
24/30474499 DC BS ISO 19214 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
BS 7012-10.2:1997 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios de alto rendimiento
BS 7012-10.1:1998 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos para uso general
BS 7012-14:1997 Microscopios ópticos. Marcado de microscopios estereoscópicos.
BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
24/30479937 DC BS ISO 25498 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)

International Organization for Standardization (ISO), Medición de cristales con microscopio electrónico

ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 19214:2024 Análisis de microhaz — Microscopía electrónica analítica — Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 15227:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
ISO 9344:2011 Microscopios - Retículas para oculares
ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 11883:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Marcado de microscopios estereoscópicos
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.

Gosstandart of Russia, Medición de cristales con microscopio electrónico

GOST R 8.697-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Espaciamientos interpenares en cristales. Método de medición mediante microscopio electrónico de transmisión.
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación

GSO, Medición de cristales con microscopio electrónico

GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
OS GSO ISO 8036:2015 Óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 15227:2015 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
BH GSO ISO 15227:2016 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
OS GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
BH GSO ISO 15932:2017 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
BH GSO ISO 11883:2016 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Marcado de microscopios estereoscópicos
GSO ISO 11883:2013 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Marcado de microscopios estereoscópicos

Professional Standard - Machinery, Medición de cristales con microscopio electrónico

JB/T 9339-1999 microscopio de medición
JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
JB/T 7816-1995 estereomicroscopio
JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 9349-1999 Cuchillas de medición para el microscopio del fabricante de herramientas.
JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Medición de cristales con microscopio electrónico

JIS B 7139-2:2008 Microscopios estereoscópicos - Parte 2: Pruebas de microscopios estereoscópicos
JIS B 7153:1995 Microscopios de medición
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS B 7139:1997 Microscopios estereoscópicos
JIS B 7139-4:2008 Microscopios estereoscópicos - Parte 4: Marcado de microscopios estereoscópicos
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS B 7150:1993 Microscopios micrométricos
JIS H 7804:2005 Método para la determinación del tamaño de partículas en catalizadores metálicos mediante microscopio electrónico.
JIS B 7139-1:2008 Microscopios estereoscópicos - Parte 1: Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medición de cristales con microscopio electrónico

GB/T 22058-2008 Microscopios-Marcado de microscopios estereoscópicos
GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB/T 19864.2-2013 Microscopios estereoscópicos.Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
GB/T 19864.1-2013 Microscopios estereoscópicos.Parte 1:Estereomicroscopios de uso general.
GB/T 19864.2-2005 Microscopios estereoscópicos.Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
GB/T 10155-1988 estereomicroscopio
GB/T 19864.1-2005 Microscopios estereoscópicos.Parte 1:Estereomicroscopios de uso general.
GB/T 43610-2023 Método de microscopía electrónica de transmisión para determinar la dirección de crecimiento aparente de cristales lineales mediante análisis de microhaces y microscopía electrónica.
GB/T 32282-2015 Medición de la densidad de dislocación en monocristal de nitruro de galio mediante microscopía de catodoluminiscencia
GB/T 27760-2011 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Medición de cristales con microscopio electrónico

KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
KS B ISO 15227:2003 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227-2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2013 Óptica e instrumentos ópticos ― microscopios ― pruebas de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B 5614-1998 Microscopios estereoscópicos
KS B 5614-2013 Microscopios estereoscópicos
KS B 5614-2018 Microscopios estereoscópicos
KS B 5601-1995(2021) Microscopios micrométricos
KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
KS B 5601-1995 Microscopios micrométricos
KS B 5601-2021 Microscopios micrométricos
KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D 8544-2021 Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS B 5617-2013 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
KS B 5617-1993 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
KS B 5614-2023 Microscopios estereoscópicos binoculares
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS B ISO 11884-2-2021 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 15227-2023 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Medición de cristales con microscopio electrónico

JJG 571-2004 Microscopio de lectura y microscopio de medición.
JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
JJG 571-1988 Reglamento de verificación del microscopio de medición.

American National Standards Institute （ANSI), Medición de cristales con microscopio electrónico

ANSI/ASTM D6056:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

Military Standards (MIL-STD), Medición de cristales con microscopio electrónico

DOD A-A-54868-1993 MICROSCOPIO ÓPTICO ESTEREOSCOPICO
DOD A-A-51689-1986 DISCO, MICRÓMETRO, OCULAR DE MICROSCOPIO

German Institute for Standardization, Medición de cristales con microscopio electrónico

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022

Danish Standards Foundation, Medición de cristales con microscopio electrónico

DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
DS/EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido

SCC, Medición de cristales con microscopio electrónico

BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
VDI 3861 BLATT 2-2008 Medición de emisiones. Medición de partículas fibrosas inorgánicas en un flujo de gas limpio. Método de microscopía electrónica de barrido.
HOLDEN HN 0295-2012 Medición microscópica del espesor de la película seca

Association Francaise de Normalisation, Medición de cristales con microscopio electrónico

NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido

Group Standards of the People's Republic of China, Medición de cristales con microscopio electrónico

T/CSTM 00003-2019 Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM)
T/SPSTS 030-2023 Medición del tamaño de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.

SE-SIS, Medición de cristales con microscopio electrónico

SIS SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos. Mediciones del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, Medición de cristales con microscopio electrónico

JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Medición de cristales con microscopio electrónico

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

IN-BIS, Medición de cristales con microscopio electrónico

IS 4329-1967 ESPECIFICACIÓN PARA EL MICROSCOPIO DE MEDICIÓN (VIAJE)

European Committee for Standardization (CEN), Medición de cristales con microscopio electrónico

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Medición de cristales con microscopio electrónico

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

Spanish Association for Standardization (UNE), Medición de cristales con microscopio electrónico

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

American Society for Testing and Materials (ASTM), Medición de cristales con microscopio electrónico

ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
ASTM D6056-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión

Association of German Mechanical Engineers, Medición de cristales con microscopio electrónico

DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)