Microscopía electrónica y medición.

Microscopía electrónica y medición., Total: 167 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía electrónica y medición. son: Vocabularios, Equipo óptico, Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Sistemas de energía fluida, Tratamiento superficial y revestimiento., Medidas lineales y angulares., Física. Química, Metrología y medición en general., Materiales de construcción, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Materiales para la construcción aeroespacial., Optoelectrónica. Equipo láser, Educación, Termodinámica y mediciones de temperatura..

International Organization for Standardization (ISO), Microscopía electrónica y medición.

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
ISO 9344:2011 Microscopios - Retículas para oculares
ISO 19214:2024 Análisis de microhaz — Microscopía electrónica analítica — Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO/TR 14880-5:2010 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 5: Orientación sobre las pruebas
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 15227:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 2: Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante.

GSO, Microscopía electrónica y medición.

GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
OS GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
BH GSO ISO 15932:2017 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
OS GSO ISO 8036:2015 Óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
GSO ISO 8036:2015 Óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
GSO ISO 15227:2015 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
BH GSO ISO 15227:2016 Óptica e instrumentos ópticos -- Microscopios -- Ensayos de microscopios estereoscópicos
GSO ISO 13095:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopía electrónica y medición.

JIS B 7153:1995 Microscopios de medición
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS B 7150:1993 Microscopios micrométricos
JIS B 7139-2:2008 Microscopios estereoscópicos - Parte 2: Pruebas de microscopios estereoscópicos
JIS B 7152:1991 Objetivos y oculares para microscopios biológicos. Métodos de medición del rendimiento.

Professional Standard - Machinery, Microscopía electrónica y medición.

JB/T 9339-1999 microscopio de medición
JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 9349-1999 Cuchillas de medición para el microscopio del fabricante de herramientas.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopía electrónica y medición.

GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
GB/T 44268.2-2024 Definición y medición de las propiedades de iluminación en microscopía Parte 2: Propiedades de iluminación dependientes del color en microscopía de campo claro
GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía electrónica y medición.

KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
KS B 5601-1995 Microscopios micrométricos
KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
KS B 5601-1995(2021) Microscopios micrométricos
KS B 5601-2021 Microscopios micrométricos
KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
KS B ISO 11884-2-2021 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D 8544-2021 Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS B 5617-2013 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
KS B 5617-1993 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS B 5618-2013 Micrómetro de escenario neto para microscopio biológico.
KS B 5618-1993 Micrómetro de escenario neto para microscopio biológico.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS B ISO 15227:2013 Óptica e instrumentos ópticos ― microscopios ― pruebas de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2003 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227-2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

British Standards Institution (BSI), Microscopía electrónica y medición.

BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
BS ISO 19214:2024 Análisis de microhaz. Microscopio electrónico analítico. Método de determinación de la dirección aparente de crecimiento de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
24/30479937 DC BS ISO 25498 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación - Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
24/30474499 DC BS ISO 19214 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y medición.

JJG 571-2004 Microscopio de lectura y microscopio de medición.
JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 571-1988 Reglamento de verificación del microscopio de medición.
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Gosstandart of Russia, Microscopía electrónica y medición.

GOST 11200-1975 Objetivos y cuerpo-tubos de los microscopios. Adjuntar dimensiones
GOST 3361-1975 Oculares y cuerpo-tubos de los microscopios. Adjuntar dimensiones
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación

German Institute for Standardization, Microscopía electrónica y medición.

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

SCC, Microscopía electrónica y medición.

DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
HOLDEN HN 0295-2012 Medición microscópica del espesor de la película seca
HOLDEN HN 0295-2004 MEDICIÓN MICROSCÓPICA DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA SECA
06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
12/30245653 DC BS ISO 15932. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Association Francaise de Normalisation, Microscopía electrónica y medición.

NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF T16-404:2020 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y medición.

T/CSTM 00003-2019 Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM)
T/SPSTS 030-2023 Medición del tamaño de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.
T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido

SE-SIS, Microscopía electrónica y medición.

SIS SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos. Mediciones del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, Microscopía electrónica y medición.

JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y medición.

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

IN-BIS, Microscopía electrónica y medición.

IS 4329-1967 ESPECIFICACIÓN PARA EL MICROSCOPIO DE MEDICIÓN (VIAJE)

Danish Standards Foundation, Microscopía electrónica y medición.

DS/EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

European Committee for Standardization (CEN), Microscopía electrónica y medición.

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)

Military Standards (MIL-STD), Microscopía electrónica y medición.

DOD A-A-51689-1986 DISCO, MICRÓMETRO, OCULAR DE MICROSCOPIO
DOD A-A-54873-1993 CAJAS, PORTAOBJETOS PARA MICROSCOPIO, PLÁSTICO

Spanish Association for Standardization (UNE), Microscopía electrónica y medición.

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía electrónica y medición.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

Association of German Mechanical Engineers, Microscopía electrónica y medición.

DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía electrónica y medición.

ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica

PH-BPS, Microscopía electrónica y medición.

PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y medición.

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Microscopía electrónica y medición.

VDI 3877 Blatt 1-2009 Contaminación del aire interior - Medición del polvo depositado en las superficies - Método de microscopía electrónica de barrido

Bureau of Indian Standards, Microscopía electrónica y medición.

IS 13108-2019 Óptica y fotónica – Microscopios – Líquidos de inmersión para microscopía óptica (segunda revisión)
IS 17849-2022 Nanotecnologías Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

Lithuanian Standards Office , Microscopía electrónica y medición.

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Medicine, Microscopía electrónica y medición.

YY 1296-2016 Microscopios quirúrgicos ópticos y fotónicos Fotopeligros de los microscopios quirúrgicos oftálmicos