Análisis de difracciónAnálisis espectral

Análisis de difracciónAnálisis espectral, Total: 200 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de difracciónAnálisis espectral son: Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Centrales eléctricas en general, Química analítica, Metales no ferrosos, Protección de radiación, Cerámica, pruebas de metales, Pinturas y barnices, Metales ferrosos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Productos de hierro y acero., Minerales metalíferos, Materiales de construcción, Componentes electrónicos en general., Refractarios, Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Ferroaleaciones.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de difracciónAnálisis espectral

JIS Z 8825:2022 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
JIS Z 8825:2013 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
JIS H 1183:2007 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
JIS Z 8825-1:2001 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Parte 1: Principios generales
JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JSA JIS G 1256 AMD 1 Hierro y acero: espectrometría de fluorescencia de rayos X
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
JSA JIS G 1256 Espectrometría de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
JIS G 1202:1975 Normas generales sobre análisis espectroscópico de emisiones para el hierro y el acero
JIS H 1305:2005 Método para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1123:1995 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
JIS H 1322:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de magnesio.
JSA JIS H 1183 AMD 1-2012 Método de análisis espectroquímico de emisión para lingotes de plata
JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)

British Standards Institution (BSI), Análisis de difracciónAnálisis espectral

BS ISO 13320:2020 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
BS ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
BS ISO 13320:2010 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
19/30333249 DC BS ISO 13320. Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
BS ISO 13320-1:1999 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser: principios generales.
BS ISO 13320-1:2000 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Principios generales
BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
BS EN ISO 8130-13:2010 Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS EN ISO 8130-13:2001 Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
BS EN ISO 8130-13:2019 Cambios rastreados. Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS DD ISO/TS 25138:2011 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS EN 61290-1-1:1998 Analizador de espectro óptico
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 13067:2011 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
BS PD ISO/TS 25138:2019 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
PD ISO/TS 25138:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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GB/T 19077.1-2003 Análisis del tamaño de partículas: método de difracción láser.
GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 19077.1-2008 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser. Parte 1: Principios generales.
GB/T 19501-2013 Análisis de microhaces. Guía general para el análisis de difracción por retrodispersión de electrones.
GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 16599-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
GB/T 9259-1988 Terminología del análisis espectroquímico de emisiones.
GB/T 16600-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
GB/T 21782.13-2009 Polvos de recubrimiento.Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
GB/T 30703-2014 Análisis de microhaces. Directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones.
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 19501-2004 Guía general para el análisis de difracción por retrodispersión de electrones.
GB/T 11170-1989 Método para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de acero inoxidable.

Danish Standards Foundation, Análisis de difracciónAnálisis espectral

DANSK DS/ISO 13320:2020 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
DS/ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
DANSK DS/ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento – Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
DS/EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
DS/EN ISO 8130-13:2011 Polvos de recubrimiento - Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de difracciónAnálisis espectral

KS A ISO 13320:2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS A ISO 13320-2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS A ISO 13320-2014(2019) Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS D 1682-2008 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS D 1681-2003 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS D 1684-2008 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS A ISO 13320:2014 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS D 2086-2004 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
KS A ISO 13320-1-2004(2009) Análisis del tamaño de partículas Métodos de difracción láser - Parte 1 Principios generales
KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 2569-2021 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS M 0043-2019 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS A ISO 13320-1-2014 Análisis del tamaño de partículas Métodos de difracción láser - Parte 1 Principios generales
KS D 1655-2008(2024) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
KS D 1680-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotográfica de materiales metálicos.
KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS M ISO 8130-13:2008 Polvos de recubrimiento －Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
KS D 1654-2021 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D 2086-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de titanio.
KS M ISO 8130-13-2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 2086-2019(2024) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión atómica del titanio
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1681-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS M 0017-2020 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 2086-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
KS D 1684-2008(2018) Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1655-2019 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS M ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.

German Institute for Standardization, Análisis de difracciónAnálisis espectral

DIN ISO 13320 E:2022-05 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
DIN ISO 13320:2022-12 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser (ISO 13320:2020)
DIN ISO 13320:2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser (ISO 13320:2020)
DIN ISO 13320 E:2022 Borrador de documento - Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser (ISO 13320:2020); Texto en alemán e inglés.
DIN EN ISO 8130-13:2019-08 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser (ISO 8130-13:2019); Versión alemana EN ISO 8130-13:2019
DIN EN ISO 29581-2 E:2007-07 Métodos de análisis químico del cemento. Parte 2: Análisis por espectrometría de fluorescencia de rayos X
DIN ISO 8130-13:2005 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser (ISO 8130-13:2001)

GSO, Análisis de difracciónAnálisis espectral

BH GSO ISO 13320:2016 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
OS GSO ISO 13320:2013 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
GSO ISO 13320:2013 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
GSO ISO 8130-13:2015 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
OS GSO ISO 8130-13:2015 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
OS GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
BH GSO ISO 10810:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis

Professional Standard - Agriculture, Análisis de difracciónAnálisis espectral

GB/T 19077-2024 Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de difracciónAnálisis espectral

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ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
ISO 13320-1:1999 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Parte 1: Principios generales
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 13067:2011 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 8130-13:2001 Polvos de recubrimiento - Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
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Professional Standard - Energy and Power Planning, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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PT-IPQ, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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SCC, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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American National Standards Institute （ANSI), Análisis de difracciónAnálisis espectral

ANSI/HPS N43.2-2021 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

RO-ASRO, Análisis de difracciónAnálisis espectral

STAS 5177-1981 Terminología del ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DE EMISIÓN
STAS 1706/17-1971 Análisis speelroquímico de COBRE

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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PREN 14726-2003 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
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EN ISO 8130-13:2010 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser (ISO 8130-13:2001)
CEN EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio. Análisis químico. Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa.
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Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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CEN - European Committee for Standardization, Análisis de difracciónAnálisis espectral

EN 14726:2019 Aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación de la composición química del aluminio y aleaciones de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica por chispa.
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Professional Standard - Non-ferrous Metal, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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YS/T 558-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de molibdeno
YS/T 559-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de tungsteno
YS/T 631-2007 Métodos de análisis del zinc. La espectrometría de emisión óptica.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
NF EN ISO 8130-13:2019 Polvos para recubrimiento - Parte 13: análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
NF A07-510:1971 Análisis de aluminio no aleado mediante espectrografía de emisión.
NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
NF A07-515:1971 Análisis de aleaciones de aluminio y cobre mediante espectrografía de emisión.
NF A07-500:1979 Análisis del aluminio y sus aleaciones mediante espectrometría de emisión.
NF T30-499-13:2011 Polvos de recubrimiento - Parte 13: análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis de difracciónAnálisis espectral

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Gosstandart of Russia, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
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GOST 8776-2010 Cobalto. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
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BE-NBN, Análisis de difracciónAnálisis espectral

NBN P 32-015-1977 Zinc y aleaciones de zinc - Análisis espectrográfico

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Standards Norway, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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Lithuanian Standards Office , Análisis de difracciónAnálisis espectral

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Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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工业和信息化部, Análisis de difracciónAnálisis espectral

YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
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国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de difracciónAnálisis espectral

GB/T 41076-2021 Análisis de microhaz: difracción por retrodispersión de electrones: determinación cuantitativa de austenita en acero

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AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

Professional Standard - Electron, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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Professional Standard - Commodity Inspection, Análisis de difracciónAnálisis espectral

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SN/T 2786-2011 Análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de magnesio y aleaciones de magnesio.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de difracciónAnálisis espectral

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de difracciónAnálisis espectral

GB/T 34172-2017 Análisis de microhaces: difracción por retrodispersión de electrones: método de análisis de fases de metales y aleaciones
GB/T 32996-2016 Análisis químico de superficies: análisis de películas de óxido metálico mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.

BR-ABNT, Análisis de difracciónAnálisis espectral

ABNT P-EB-304-1969 PADR?ES PARA "AN?LISE ESPECTROGRAPICA