UNE-EN 60749-5:2017
Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 5: Prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad constantes

Estándar No.
UNE-EN 60749-5:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
Spanish Association for Standardization (UNE)
Ultima versión
UNE-EN 60749-5:2017
 
Alcance
Esta parte de la norma IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad en estado estacionario para evaluar la fiabilidad de dispositivos de estado sólido con empaquetado no hermético en un entorno húmedo. Este método de prueba se considera destructivo.

UNE-EN 60749-5:2017 Documento de referencia

  • IEC 60749-4 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

UNE-EN 60749-5:2017 Historia

  • 2017 UNE-EN 60749-5:2017 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 5: Prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad constantes
  • 2003 UNE-EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario
Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 5: Prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad constantes

Temas especiales sobre estándares y normas

Temperatura de la máquina de temperatura y humedad constantes en fábrica de muebles.

estándares y especificaciones

DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos IEC 60749-5:2023 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DIN EN 60749-5 E:2016-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura BS EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos: prueba de vida útil con polarización de humedad y temperatura en estado estacionario CEI EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura BS EN IEC 60749-39:2022 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua GSO IEC 60749-5:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura IEC 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura


© 2025 Reservados todos los derechos.