GB/T 4937-1995
Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 4937-1995
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 1995
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado: ser reemplazado 2007-02
Remplazado por: GB/T 4937.1-2006; GB/T 4937.2-2006
Ultima versión: GB/T 4937.1-2006; GB/T 4937.2-2006

Alcance: Esta norma enumera los métodos de prueba aplicables a dispositivos semiconductores (circuitos discretos e integrados). Puedes elegir entre ellos cuando los uses. Para dispositivos sin cavidad, es posible que se requieran métodos de prueba complementarios. Nota: Un dispositivo sin cavidad es aquel en el que el material de encapsulación está en contacto íntimo con todas las superficies expuestas del troquel sin ningún vacío en la estructura del dispositivo. Esta norma ha considerado en la medida de lo posible la norma IEC 68 "Procedimientos básicos de prueba ambiental".

GB/T 4937-1995 Historia

2006 GB/T 4937.1-2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades
1995 GB/T 4937-1995 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores.