KS D ISO 14237:2003
Análisis químico de superficies-Espectrometría de masas de iones secundarios-Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

Estándar No.
KS D ISO 14237:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS D ISO 14237-2003(2018)
Ultima versión
KS D ISO 14237-2023
Reemplazar
KS D ISO 14237:2002
 

Alcance
Este estándar especifica que el boro se agrega y calibra de manera uniforme mediante un material estándar certificado en el que se implanta iones de boro.

KS D ISO 14237:2003 Historia

  • 2023 KS D ISO 14237-2023
  • 0000 KS D ISO 14237-2003(2018)
  • 2003 KS D ISO 14237:2003 Análisis químico de superficies-Espectrometría de masas de iones secundarios-Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • 0000 KS D ISO 14237:2002

estándares y especificaciones

ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente GSO ISO 14237:2013 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente AS ISO 14237:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente BS ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente. JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.



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