JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
Este estándar establece procedimientos para la determinación de la concentración de átomos de boron en silicio mediante el uso de materiales uniformemente dopados, empleando técnicas de espectrometría de masas de iones secundarios. Se detallan los métodos de análisis, las condiciones experimentales y los requisitos para la calibración. El documento proporciona directrices para garantizar la precisión y la reproducibilidad de los resultados obtenidos en la evaluación de muestras. También incluye información sobre la preparación de las muestras y los equipos necesarios para llevar a cabo el análisis. La norma se enfoca en la aplicación de métodos estandarizados para la caracterización química de superficies en diversos contextos industriales.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
JIS K 0143:2023 Historia
2023JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
2000JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente