IEC 60269-4:1986/AMD2:2002
Enmienda 2 - Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores

Estándar No.
IEC 60269-4:1986/AMD2:2002
Fecha de publicación
2002
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 60269-4:1986/AMD2:2002/COR1:2003
Ultima versión
IEC 60269-4:2024 CMV
Reemplazar
29.120.50
 

Introducción
Este estándar establece requisitos complementarios para disyuntores de baja tensión diseñados para proteger dispositivos semiconductores. Se enfoca en las características específicas que deben cumplir estos disyuntores para garantizar su funcionamiento adecuado en aplicaciones que incluyen componentes electrónicos sensibles. El documento proporciona directrices sobre las pruebas necesarias, las condiciones de operación y las especificaciones técnicas relevantes. Además, define los criterios para la selección y el uso correcto de estos dispositivos en sistemas eléctricos. Se destaca la importancia de cumplir con los requisitos establecidos para asegurar la protección eficaz de los componentes semiconductores en circuitos de baja tensión.

IEC 60269-4:1986/AMD2:2002 Historia

  • 0000 IEC 60269-4:2024 CMV
  • 2016 IEC 60269-4:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2016 IEC 60269-4:2009/AMD2:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2009/AMD1:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2009 IEC 60269-4:2009 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2006 IEC 60269-4:2006 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2003 IEC 60269-4:1986/AMD2:2002/COR1:2003 Corrigendum 1 de la Enmienda 2 - Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores
  • 2002 IEC 60269-4:1986/AMD2:2002 Enmienda 2 - Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores
  • 1995 IEC 60269-4:1986/AMD1:1995 Enmienda 1 - Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores
  • 1986 IEC 60269-4:1986 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores
  • 1980 IEC 60269-4:1980 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 1974 IEC 60269-4:1974 Fusibles de baja tensión Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores

estándares y especificaciones




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