IS 7412-1974
PRUEBAS DE VIDA DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES

Estándar No.
IS 7412-1974
Fecha de publicación
1975
Organización
IN-BIS
Ultima versión
IS 7412-1974
 
Alcance
Esta norma trata del procedimiento de prueba de vida para dispositivos semiconductores aplicable para los siguientes propósitos: a) Aprobación de tipo o prueba de tipo, b) Prueba de aceptación, y c) Evaluación de confiabilidad.

IS 7412-1974 Historia

  • 1975 IS 7412-1974 PRUEBAS DE VIDA DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES

Temas especiales sobre estándares y normas

Documentación de vida del instrumento Vida del dispositivo electrónico Prueba de vida del robot Vida del semiconductor

estándares y especificaciones

JEDEC EIA-323-1966 Entorno de prueba de vida útil refrigerado por convección de aire para dispositivos semiconductores montados en cables DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos IEC 62374-1:2010 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas BS EN 62374-1:2010 Dispositivos semiconductores. Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura DS/EN 62374-1/AC:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas DS/EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas GSO IEC 62374-1:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas BS EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos: prueba de vida útil con polarización de humedad y temperatura en estado estacionario


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